[发明专利]集成全光学探测的医疗模拟器在审

专利信息
申请号: 201910248896.8 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN110322764A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 克里斯多夫·德里斯科尔;菲利普·维尔纳夫;让-塞巴斯蒂安·弗拉芒;朱塞佩·马拉奇 申请(专利权)人: 卡艾保健加拿大公司
主分类号: G09B23/28 分类号: G09B23/28
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王瑞朋;胡彬
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 一种用于模拟细长仪器插入到受试者中的设备,包括:框架,其沿纵向轴线在近侧面和远侧面之间延伸,所述近侧面设有用于在其中接收细长仪器的插入孔口,细长仪器可在框架内沿路径移动;第一光学传感器,其定位在框架内用于测量细长仪器的截面尺寸;第二光学传感器,其定位在框架内用于测量细长仪器在框架内的位移;以及控制单元,其与第一和第二光学传感器通信,并构造为将测量到的细长仪器的截面尺寸与至少一个参考尺寸比较;在得到肯定的比较结果时,触发第二光学传感器的启用;并输出测量到的细长仪器的位移。
搜索关键词: 细长仪器 光学传感器 测量 侧面 模拟器 尺寸比较 路径移动 输出测量 纵向轴线 插入孔 全光学 触发 探测 参考 延伸 通信 医疗
【主权项】:
1.一种用于模拟细长仪器插入到受试者中的设备,所述设备包括:框架,其沿着纵向轴线在近侧面和远侧面之间延伸,所述近侧面设置有用于在其中接收所述细长仪器的插入孔口,所述细长仪器能够在所述框架内沿路径移动;第一光学传感器,其定位在所述框架内,用于测量所述细长仪器的截面尺寸;第二光学传感器,其定位在所述框架内,用于测量所述细长仪器在所述框架内的位移;以及控制单元,其与所述第一和第二光学传感器通信,并且构造为:将测量到的所述细长仪器的截面尺寸与至少一个参考尺寸进行比较;响应于在测量到的所述细长仪器的截面尺寸与所述至少一个参考尺寸之间的肯定的比较结果,触发所述第二光学传感器的启用;并且输出测量到的所述细长仪器的位移。
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