[发明专利]瞬态光电化学显微镜及瞬态电化学过程测量方法有效
| 申请号： | 201910241019.8 | 申请日： | 2019-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN109916883B | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 康斌;张淼;徐静娟;陈洪渊 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N21/75 | 分类号： | G01N21/75;G01N27/26 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 张华蒙 |
| 地址： | 210023 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种瞬态光电化学显微镜，属于电化学的显微成像系统技术领域，包括数字工作站系统、电化学检测系统、暗场显微镜系统、成像系统和延迟发生器系统，数字工作站系统与电化学检测系统相连，延迟发生器系统与成像系统、暗场显微系统和数字工作站系统分别相连。本发明还公开了瞬态电化学过程测量方法。本发明使用双通道数字发生器控制的电化学工作站对Au纳米电极施加脉冲电压，然后利用电化学检测系统采集Au纳米电极的电流信号，通过延迟发生器系统产生的延迟触发信号来控制暗场显微系统、成像系统采集Au纳米电极在双电层形成过程中不同时刻的散射图像，最终利用电学和光学两种检测技术获得Au纳米电极上如双电层形成的瞬态电化学过程。 | ||
| 搜索关键词： | 瞬态 光电 化学 显微镜 电化学 过程 测量方法 | ||
【主权项】：
1.瞬态光电化学显微镜，其特征在于：包括提供脉冲方波的数字工作站系统、检测纳米电极电流的电化学检测系统、对纳米电极进行显微观察的暗场显微镜系统、进行图像信息采集处理的成像系统和提供延迟触发信号的延迟发生器系统，所述的数字工作站系统与电化学检测系统相连，所述的延迟发生器系统与成像系统、暗场显微系统和数字工作站系统分别相连。
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