[发明专利]一种根据化验数据自动校正软测量仪表的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910232657.3 申请日: 2019-03-26
公开(公告)号: CN109933031B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 张羽飞;杨琦;陈玉国 申请(专利权)人: 沈阳铝镁设计研究院有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 沈阳新科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21117 代理人: 李晓光
地址: 110001 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明的一种根据化验数据自动校正软测量仪表的系统及方法,使用间接测量数据和化验数据,建立软测量仪表数学模型,并通过控制系统历史数据库和化验分析管理数据库实现软测量仪表的在线校正功能。本发明中利用取样按钮,将取样样品的主导变量的化验值与传感器检测的辅助变量值相匹配,实现化验值与传感器检测值来自同一时间经过检测点的同一。软测量仪表模型校正系统,提出了软测量仪表测量测量误差检验方法,当软测量仪表精度无法满足要求时,触发软测量仪表数学计算模型校正机制。在原有模型基础上,通过近期积累的主导变量的化验值和辅助变量建立新的模型。当新模型经过一段时间验证后,对软测量仪表数学计算模型的进行无缝切换、在线更新。
搜索关键词: 一种 根据 化验 数据 自动 校正 测量 仪表 系统 方法
【主权项】:
1.一种根据化验数据自动校正软测量仪表的系统,其特征在于,包括:软测量仪表传感器,安装在被测主导变量所在的工艺流程现场,对主导变量的辅助变量进行测量;取样按钮,安装在被测主导变量所在的工艺流程现场,工人进行离线化验取样时输出开关量信号;控制系统,实时接收软测量仪表传感器输出的辅助变量和取样按钮输出的开关量信号,并根据开关量信号记录系统时间;控制系统历史数据库,与所述控制系统相连接用于存储辅助变量、开关量信号和按下取样按钮时的系统时间;离线取样化验系统,采用离线化验取样的方式检测主导变量的化验值;化验分析管理数据库,用于存储主导变量的化验值;软测量仪表计算模型,用于接收软测量仪表传感器实时检测的辅助变量,并计算输出主导变量的估值;软测量仪表模型校正系统,根据辅助变量、主导变量的估值与主导变量的化验值,对软测量仪表计算模型进行在线校正,与软测量仪表计算模型共同组成闭环系统。
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