[发明专利]一种根据化验数据自动校正软测量仪表的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910232657.3 申请日: 2019-03-26
公开(公告)号: CN109933031B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 张羽飞;杨琦;陈玉国 申请(专利权)人: 沈阳铝镁设计研究院有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 沈阳新科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21117 代理人: 李晓光
地址: 110001 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 根据 化验 数据 自动 校正 测量 仪表 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种根据化验数据自动校正软测量仪表的系统,其特征在于,包括:

软测量仪表传感器,安装在被测主导变量所在的工艺流程现场,对主导变量的辅助变量进行测量;

取样按钮,安装在被测主导变量所在的工艺流程现场,工人进行离线化验取样时输出开关量信号;

控制系统,实时接收软测量仪表传感器输出的辅助变量和取样按钮输出的开关量信号,并根据开关量信号记录系统时间;

控制系统历史数据库,与所述控制系统相连接用于存储辅助变量、开关量信号和按下取样按钮时的系统时间;

离线取样化验系统,采用离线化验取样的方式检测主导变量的化验值;

化验分析管理数据库,用于存储主导变量的化验值;

软测量仪表计算模型,用于接收软测量仪表传感器实时检测的辅助变量,并计算输出主导变量的估值;

软测量仪表模型校正系统,根据辅助变量、主导变量的估值与主导变量的化验值,对软测量仪表计算模型进行在线校正,与软测量仪表计算模型共同组成闭环系统。

2.如权利要求1所述的根据化验数据自动校正软测量仪表的系统,其特征在于,所述软测量仪表模型校正系统包括:

第一计算模块,计算当前主导变量的估值与主导变量的化验值之间的误差值;

第二计算模块,经过多次数据积累后计算误差平均值和误差值标准差;

第一判断模块,判断当前的误差平均值和误差值标准差是否达到预设的阈值;

模型修正模块,当误差平均值和误差值标准差达到预设的阈值时,利用最新积累到的多组辅助变量、主导变量的估值和主导变量的化验值对当前模型进行修正获得修正模型;

第三计算模块,再经过多次数据积累后计算当前模型的误差平均值和误差值标准差,并计算修正模型的误差平均值和误差值标准差;

模型更新模块,当修正模型的误差平均值小于当前模型的误差平均值且修正模型的误差值标准差小于当前模型的误差值标准差时,用修正模型替换当前模型。

3.如权利要求1所述的根据化验数据自动校正软测量仪表的系统,其特征在于,所述软测量仪表计算模型采用回归分析RA、神经网络ANN或支持向量机SVM方法建立。

4.如权利要求1所述的根据化验数据自动校正软测量仪表的系统,其特征在于,所述控制系统采用PLC或DCS。

5.一种根据化验数据自动校正软测量仪表的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:实时检测主导变量的辅助变量;

步骤2:将实时检测的辅助变量输入当前模型,计算输出主导变量的估值;

步骤3:采用离线化验取样的方式检测主导变量的化验值并存储到化验分析管理数据库中,同时输出离线化验取样的开关量信号;

步骤4:接收辅助变量和离线化验取样的开关量信号,并根据开关量信号记录系统时间;

步骤5:将辅助变量、开关量信号和按下取样按钮时的系统时间存储到控制系统历史数据库;

步骤6:根据辅助变量、主导变量的估值与主导变量的化验值,对软测量仪表计算模型进行在线校正,与软测量仪表计算模型共同组成闭环系统。

6.如权利要求5所述的根据化验数据自动校正软测量仪表的方法,其特征在于,所述步骤6具体为:

步骤6.1:计算当前主导变量的估值与主导变量的化验值之间的误差值;

步骤6.2:经过多次数据积累后计算误差平均值和误差值标准差;

步骤6.3:判断当前的误差平均值和误差值标准差是否达到预设的阈值;

步骤6.4:当误差平均值和误差值标准差达到预设的阈值时,利用最新积累到的多组辅助变量、主导变量的估值和主导变量的化验值对当前模型进行修正获得修正模型;

步骤6.5:再经过多次数据积累后计算当前模型的误差平均值和误差值标准差,并计算修正模型的误差平均值和误差值标准差;

步骤6.6:修正模型的误差平均值小于当前模型的误差平均值且修正模型的误差值标准差小于当前模型的误差值标准差时,用修正模型替换当前模型。

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