[发明专利]一种钽掺杂二氧化铪铁电材料的制备方法有效

专利信息
申请号: 201910211530.3 申请日: 2019-03-20
公开(公告)号: CN109979811B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 毕磊;袁秀芳 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/285;H01L29/51;C23C14/08;C23C14/28;C23C14/58
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 闫树平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于材料领域,具体涉及一种钽掺杂二氧化铪新型铁电材料的制备方法。本发明首次提出了施主掺杂,为制备HfO2铁电薄膜材料提供了一种新的路径;采用Pt电极避免了Ta掺杂HfO2材料与电极材料的反应,利用脉冲激光沉积、快速退火等方式获得了施主Ta掺杂的HfO2铁电薄膜,证明了施主元素也可用于通过掺杂促使HfO2薄膜产生铁电性。施主掺杂HfO2铁电薄膜的实现,可以帮助我们了解掺杂元素化合价对HfO2薄膜铁电性的影响,对更好地应用HfO2铁电薄膜产生积极的推动作用。
搜索关键词: 一种 掺杂 氧化 铪铁电 材料 制备 方法
【主权项】:
1.一种钽掺杂二氧化铪新型铁电材料的制备方法,包括以下步骤:步骤1:采用脉冲激光沉积PLD对Ta2O5靶、HfO2靶交替打靶的方式在Pt/Si基底上沉积10~25nm厚Ta掺杂的HfO2非晶薄膜,通过控制对两个靶的打靶次数的比例来控制Ta掺杂含量,获得掺杂含量为15~25mol%的Ta:HfO2薄膜;步骤2:在步骤1制备的Ta:HfO2薄膜上制备70~90nm厚的Pt顶电极;步骤3:采用快速退火RTA技术,将步骤2所得的样品进行快速退火使其结晶。
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