[发明专利]一种接触孔结构的制作方法有效
| 申请号: | 201910210565.5 | 申请日: | 2019-03-20 |
| 公开(公告)号: | CN109904116B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
| 发明(设计)人: | 赵波 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/528;H01L23/532;C23C16/14;C23C16/24;C23C16/455 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种接触孔结构的制作方法,所述方法包括依次在接触孔内形成硅层、钨成核层和钨主体层,以对所述接触孔进行填充,其中,所述钨成核层通过多个循环反应形成,更有利于控制最终形成的所述钨成核层的形貌,不会出现在接触孔顶部的位置形成的钨成核层较厚而导致接触孔的开口过小不利于后续填充的情况,因此,通过本发明提供的接触孔结构的制作方法,解决了通过现有的金属钨的填充工艺所形成的钨塞中间的空隙较大的问题。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 接触 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种接触孔结构的制作方法,其特征在于,包括:提供一衬底并在所述衬底中形成一接触孔;形成硅层,所述硅层覆盖所述接触孔表面并延伸覆盖所述衬底表面;形成钨成核层,所述钨成核层覆盖所述硅层的表面,所述钨成核层通过多个循环反应形成;形成钨主体层,所述钨主体层覆盖所述钨成核层的表面并将所述接触孔填满;去除所述衬底表面的所述硅层、所述钨成核层和所述钨主体层以形成接触孔结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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