[发明专利]一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法

摘要

本发明公开了一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法，主要涉及分析化学仪器应用技术领域，包括样品采集编辑，数据预处理，样品分析，模型校正，设备安装，样品预测，预测结果输出，采用化学计量学，如果样品的组成相同，则其光谱也相同，反之亦然。如果我们建立了光谱与待测参数之间的对应关系(称为分析模型)，只要测得样品的光谱，通过光谱和上述对应关系，就能很快得到所需要的质量参数数据。

主权项

1.一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法，其特征在于：包括，步骤1，样品采集编辑，分别采用静态测样方式采集I目和II目的近红外光谱；步骤2，数据预处理，包括模型转移，和差计算，剪切、平均，MSC、SNV，归一化、中心化、平滑、微分；步骤3，样品分析，包括波长特征分析、样品集合分析，所述波长特征分析包括标准偏差、相关系数，然后进行波段选择，所述样品集合分析包括化学指标特征分布、PCA\PLS特征提取，然后进行聚类分析、样品集合划分、界外样品识别、样品聚集分布；步骤4，模型校正，分别采用定量校正方法、定性建模方法，然后校正计算，进一步进行校正结果统计分析，最后保存模型；步骤5，设备安装，在生产设备上开孔，把法兰圈焊接到上面，再把篮宝石视窗和法兰板固定在法兰圈上，最后再安装上AOTF近红外光谱仪。步骤6，样品预测，首先载入模型、导入光谱，然后进行预测，分别采用静态测样方式采集I目和II目的近红外光谱，比较光谱差异。然后采用动态旋转测样方式采集I目和II目的近红外光谱，比较光谱差异，最后，进行预测结果统计分析。步骤7，预测结果输出，输出检测结果。