[发明专利]一种激光与光学复合测头测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910172474.7 申请日: 2019-03-07
公开(公告)号: CN109737876A 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 郑掷;朱阳光 申请(专利权)人: 西安爱德华测量设备股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710077 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种激光与光学复合测头测量方法及装置。其中,一种激光与光学复合测头测量方法,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立光学测量坐标系,复合测头获取多点位信息,该多点位信息包括一次获取的包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息,依据包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息进行测量数据的拟合和对比,建立工件坐标系,完成测量。本发明还提供了一种激光与光学复合测头测量装置,包括一三坐标机,设置在三坐标机上的侧头座,设置在侧头座底部的B角旋转部,与旋转部连接的光学镜头组件。
搜索关键词: 测头 复合 激光 测量方法及装置 形状和位置 点位信息 测量 多点位 三坐标 侧头 光学测量系统 光学镜头组件 工件坐标系 测量数据 测量装置 光学测量 特征测量 测头座 待测件 角旋转 旋转部 坐标机 拟合
【主权项】:
1.一种激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立光学测量坐标系,复合测头获取多点位信息,该多点位信息包括一次获取的包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息,依据包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息进行测量数据的拟合和对比,建立工件坐标系,完成测量。
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