[发明专利]一种激光与光学复合测头测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910172474.7 申请日: 2019-03-07
公开(公告)号: CN109737876A 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 郑掷;朱阳光 申请(专利权)人: 西安爱德华测量设备股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710077 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测头 复合 激光 测量方法及装置 形状和位置 点位信息 测量 多点位 三坐标 侧头 光学测量系统 光学镜头组件 工件坐标系 测量数据 测量装置 光学测量 特征测量 测头座 待测件 角旋转 旋转部 坐标机 拟合
【权利要求书】:

1.一种激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立光学测量坐标系,复合测头获取多点位信息,该多点位信息包括一次获取的包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息,依据包含形状和位置特征的从P1~Pn大量点位信息进行测量数据的拟合和对比,建立工件坐标系,完成测量。

2.一种激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立点激光测量坐标系,通过三次寻边采点,获取从P1到P2再到P3单点位信息,依据获取的从P1到P2再到P3单点位信息通过点、线、面三个形式进行测量数据的拟合和比对,完成测量。

3.一种激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立复合侧头测量坐标系,分析测量特征,依据测量特征生成测量路径和程序,依据测量路径和程序生成测量机三轴运动路径以及生成调整激光路径补全测量区域,对测量数据进行拟合和对比,完成测量。

4.一种激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,当复合测头及测头座安装于三坐标机上后可通过其光学测量系统完成待测件的识别与特征测量,其具体步骤如下:导入CAD模型,选取测量特征,建立点激光及转台运动测量坐标系,分析测量特征,依据测量特征生成测量路径和程序,依据测量路径和程序生成测量机三轴运动路径以及生成调整激光路径补全测量区域,对测量数据进行拟合和对比,完成测量。

5.根据权利要求1激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,还包括复合测头的校正,其具体的步骤如下:调校激光侧头偏角,校准激光侧头,将测头座旋转至不同A/B角度进行标定待用,当旋转角相同时,两侧头分别测量标准球,对测量校准数据进行拟合和处理,完成复合侧头相对关系的校准。

6.根据权利要求3激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,还包括复合测头的校正,其具体的步骤如下:调校光学镜头偏角,校准激光侧头,将测头座旋转至不同A/B角度进行标定待用,当旋转角相同时,两侧头分别测量标准球,对测量校准数据进行拟合和处理,完成复合侧头相对关系的校准。

7.根据权利要求2激光与光学复合测头测量方法,其特征在于,所述三次寻边采点包括一侧棱边采集1点位置信息P1;一侧棱边采集2点位置信息P2和P3;通过P1、P2和P3拟合生成基准面。

8.一种激光与光学复合测头测量装置,其特征在于,包括一三坐标机,设置在三坐标机上的侧头座,设置在侧头座底部的B角旋转部,与旋转部连接的光学镜头组件,设置在光学镜头组件上的外挂安装座,设置在外挂安装座上的激光镜头组件,以及在外挂安装座上设置有微调机构,所述光学镜头组件包括与B角旋转部连接的A角旋转部,所述A角旋转部与转台固定,所述转台固定在光学镜头护罩内部设置的B角调整座上,B角调整座一端设置有调整架,该调整架上设置有工业相机,所述工业相机上设置有镜头模组,设置在镜头模组前端的顶部环光;所述微调机构包括A角调整座,设置在A角调整座底部的平行调整机构,设置在平行调整机构上的激光镜头组件,所述激光镜头组件包括设置在包括激光镜头护罩,设置在激光镜头护罩内部中心线上的光纤信号线,与光纤信号线同轴设置的激光镜头组,所述光学镜头组件轴线、激光镜头组件轴线与测头座轴线的平行。

9.根据权利要求8所述的激光与光学复合测头测量装置,其特征在于,所述B角调整座上设置有B角调整螺丝;所述A角调整座上设置有A角调整螺丝,所述平行调整机构上设置有平行调整螺丝。

10.根据权利要求8所述的激光与光学复合测头测量装置,其特征在于,所述三坐标机包括底座,设置在底座上的支架,设置在支架上的移动横梁,设置在移动横梁上的测量基座,所述侧头座设置在测量基座上。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安爱德华测量设备股份有限公司,未经西安爱德华测量设备股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910172474.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top