[发明专利]斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法在审

专利信息
申请号: 201910168082.3 申请日: 2019-03-06
公开(公告)号: CN109900932A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 陈伟军;宋屹 申请(专利权)人: 苏州世纪福智能装备股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 曹成俊
地址: 215153 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法。本发明一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,包括:从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;遍历测试点集P。本发明的有益效果:通过采用斜针和普通100mil相结合的方式,探针的弹力更大,穿透性更高,从而大幅提高了测试稳定性,另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单,成本也就相对更低,最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。
搜索关键词: 斜针 夹具 中探针 测试点 网格 点集 探针 测试稳定性 遍历测试 传统夹具 结构维护 网格中心 制作工艺 最大距离 穿透性 夹具针 元器件 针板 投影 制作
【主权项】:
1.一种斜针式ICT测试夹具,其特征在于,包括:斜针模块和普通探针模块;所述斜针模块的探针是倾斜的,所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。
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