[发明专利]斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法在审
申请号: | 201910168082.3 | 申请日: | 2019-03-06 |
公开(公告)号: | CN109900932A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 陈伟军;宋屹 | 申请(专利权)人: | 苏州世纪福智能装备股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 曹成俊 |
地址: | 215153 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 斜针 夹具 中探针 测试点 网格 点集 探针 测试稳定性 遍历测试 传统夹具 结构维护 网格中心 制作工艺 最大距离 穿透性 夹具针 元器件 针板 投影 制作 | ||
1.一种斜针式ICT测试夹具,其特征在于,包括:斜针模块和普通探针模块;所述斜针模块的探针是倾斜的,所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。
2.一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法,其特征在于,包括:
从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0,p1,p2,p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息;
获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0,n1,n2…);
设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D;
遍历测试点集P;
以P为圆心,D为半径选择最佳的探针在针板上的放置点N(条件是:P’N之间的距离最短,并确保探针不会碰到附近的元器件);
获取针板网络点集N的位置信息;
根据数控机床能够读取的数控系统G代码文件格式,输出指定格式的加工。
3.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求2所述方法的步骤。
4.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求2所述方法的步骤。
5.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求2所述的方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州世纪福智能装备股份有限公司,未经苏州世纪福智能装备股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910168082.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体组件测试连接接口
- 下一篇:一种电源线测试装置用可调节大小的夹持机构