[发明专利]半导体工艺用组合物及半导体工艺有效
申请号: | 201910161445.0 | 申请日: | 2019-03-04 |
公开(公告)号: | CN110233101B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 金炳秀;晋圭安;吴濬禄 | 申请(专利权)人: | SKC索密思株式会社 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/02 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种半导体工艺用组合物,其包含:包含无机酸或有机酸的第一成分;以及包含由化学式1或化学式2表示的硅化合物的第二成分,还提供一种半导体工艺,包括使用上述半导体工艺用组合物选择性地清洁及/或者除去有机物或无机物的步骤。 | ||
搜索关键词: | 半导体 工艺 组合 | ||
【主权项】:
1.一种半导体工艺用组合物,其包含:包含无机酸或有机酸的第一成分;以及包含由以下化学式1表示的化合物或由以下化学式2表示的化合物的第二成分;[化学式1]
[化学式2]R5‑Ge‑R6在上述化学式1及上述化学式2中,R1乃至R6各自独立地从氢、取代或未取代的C1‑C30烷基、取代或未取代的C1‑C30烷氧基、取代或未取代的C2‑C30烯基、取代或未取代的C2‑C30炔基、取代或未取代的C6‑C30脂肪族环基、取代或未取代的C4‑C30杂脂肪族环基、取代或未取代的C6‑C30芳香族环基、取代或未取代的C4‑C30杂芳香族环基、取代或未取代的胺基、羟基、羰基、羧基、卤素基,氧化(=O)基及以下化学式3的基中选择,[化学式3]
在上述化学式3中,M是硅(Si)或锗(Ge),A是从单键、取代或未取代的C1‑C30亚烷基、取代或未取代的C2‑C30亚烯基、取代或未取代的C2‑C30亚炔基、取代或未取代的二价的C6‑C30脂肪族环基、取代或未取代的二价的C4‑C30杂脂肪族环基、取代或未取代的二价的C6‑C30芳香族环基、取代或未取代的二价的C4‑C30杂芳香族环基、取代或未取代的二价的胺基、‑O‑、‑S‑、‑S(=O)2‑及‑C(=O)‑中选择,R7乃至R9各自独立地从氢、取代或未取代的C1‑C30烷基、取代或未取代的C1‑C30烷氧基、取代或未取代的C2‑C30烯基、取代或未取代的C2‑C30炔基、取代或未取代的C6‑C30脂肪族环基、取代或未取代的C4‑C30杂脂肪族环基、取代或未取代的C6‑C30芳香族环基、取代或未取代的C4‑C30杂芳香族环基、取代或未取代的胺基、羟基、羰基、羧基、卤素基,氧化(=O)基中选择。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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