[发明专利]3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置有效
| 申请号： | 201910160841.1 | 申请日： | 2019-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111653305B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王颀;张桔萍;刘飞;霍宗亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 党丽;王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种3D NAND Flash存储器3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置，基于3D NAND Flash存储器的结构，考虑3D NAND Flash存储器的故障模型，提出新的测试方法，按照特定的测试顺序和测试向量进行测试，可以更多覆盖或进一步全面覆盖3D NAND Flash存储器干扰故障。 | ||
| 搜索关键词： | nand flash 存储器 测试 算法 及其 装置 | ||
【主权项】：
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