[发明专利]用于测试半导体元件的分选机有效

专利信息
申请号: 201910142020.5 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN110064605B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 李镇福;成耆烛;李建雨 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 姜长星;张川绪
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种能够支持半导体元件的测试的用于测试半导体元件的分选机。根据本发明的用于测试半导体元件的分选机包括:接触引导器,与测试器的插座板结合,并进行引导而使半导体元件能够与设置在所述插座板的测试插座精确地电连接;以及元件供应器,用于将半导体元件供应给所述接触引导器,其中,所述接触引导器包括:结合板,与所述插座板结合;嵌入件,以与所述测试插座一对一地对应的方式可移动地设置于所述结合板,并具有用于放置被所述元件供应器供应的半导体元件的放置槽;以及弹性部件,将所述嵌入件向上方弹性支撑,从而在所述元件供应器对被放置于所述嵌入件的半导体元件向下方加压时,使所述嵌入件能够相对于所述测试插座而下降。
搜索关键词: 用于 测试 半导体 元件 分选
【主权项】:
1.一种用于测试半导体元件的分选机,包括:接触引导器,与测试器的插座板结合,并进行引导而使半导体元件能够与设置在所述插座板的测试插座精确地电连接;以及元件供应器,用于将半导体元件供应给所述接触引导器,其中,所述接触引导器包括:结合板,与所述插座板结合;嵌入件,以与所述测试插座一对一地对应的且能够沿水平方向游动的方式设置在所述结合板,并具有用于放置被所述元件供应器供应的半导体元件的放置槽,其中,所述嵌入件具有用于矫正与所述测试插座的位置的第一矫正孔和第二矫正孔,配备于所述测试插座的第一矫正销插入到所述第一矫正孔而对所述嵌入件的位置进行一次矫正,在放置于所述嵌入件的半导体元件被所述元件供应器向下方加压时,配备于所述测试插座的第二矫正销插入到所述第二矫正孔,从而对所述嵌入件的位置进行二次矫正。
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