[发明专利]光电芯片以及用于测试这种芯片的光子电路的方法在审
| 申请号： | 201910116156.9 | 申请日： | 2019-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN110161636A | 公开（公告）日： | 2019-08-23 |
| 发明（设计）人： | P·勒迈特瑞;J-F·卡彭蒂尔 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（克洛尔2）公司 |
| 主分类号： | G02B6/42 | 分类号： | G02B6/42;G01R31/311 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及光电芯片以及用于测试这种芯片的光子电路的方法。本发明涉及光电芯片，该光电芯片包括：光学输入对，其具有相同的通带，并且每个光学输入被适配于不同的偏振；至少一个待测试的光子电路；以及被配置成将两个输入耦合到待测试的电路的光学耦合装置。 | ||
| 搜索关键词： | 光电芯片 光子电路 测试 光学输入 芯片 光学耦合装置 输入耦合 偏振 适配 通带 电路 配置 | ||
【主权项】：
1.一种光电芯片，包括：光学输入对，其具有相同的带宽，并且所述光学输入对均被适配于不同偏振；待测试的光子电路；以及光学耦合装置，其被配置成将所述光学输入对耦合到所述待测试的光子电路。
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