[发明专利]光电芯片以及用于测试这种芯片的光子电路的方法

说明书

本公开的实施例涉及光电芯片以及用于测试这种芯片的光子电路的方法。本发明涉及光电芯片，该光电芯片包括：光学输入对，其具有相同的通带，并且每个光学输入被适配于不同的偏振；至少一个待测试的光子电路；以及被配置成将两个输入耦合到待测试的电路的光学耦合装置。

相关申请的交叉引用

本发明要求于2018年02月13日提交的法国专利申请号1851201的优先权，该申请通过引用并入本文。

技术领域

本公开一般涉及光电芯片，并且更具体地涉及这种芯片的光子(即光学或光电)电路的测试。

背景技术

为了确保芯片的光子电路工作，对后者进行测试或表征。为此目的，在芯片的光学输入的层级处注入(inject)的光学信号被提供给待测试的电路。然后观察电路的输出信号以确定电路是否工作。

发明内容

在第一方面，提供了一种光电芯片，其包括：光学输入对，其具有相同的带宽，并且光学输入对均被适配于不同偏振；待测试的光子电路；以及光学耦合装置，其被配置成将光学输入对耦合到待测试的光子电路。

根据一个实施例，光学耦合装置被配置成：当光电芯片的输入接收在输入的带宽中的波长的、被适配于输入的偏振信号时，向待测试的光子电路提供具有相同波长和相同偏振的信号。

根据一个实施例，光学耦合装置包括光学耦合器。

根据一个实施例，光学耦合器是多模干涉仪类型的。

根据一个实施例，光学耦合器是渐逝耦合器。

根据一个实施例，渐逝耦合器具有两个输入和两个输出。

根据一个实施例，光学耦合装置包括：多模干涉仪类型的光学耦合器；以及渐逝耦合器。

根据一个实施例，光学耦合装置包括光学分路器，光学分路器具有被耦合到芯片的光学输入对的输入，并且光学分路器具有被耦合到待测试的光子电路的输出。

根据一个实施例，芯片还包括多个光学输入对，多个光学输入对中的每对的光学输入均被适配于不同的偏振，并且多个光学输入对中的每对的光学输入具有相同的带宽，相同的带宽与其他光学输入对的带宽不同。

在第二方面，提供了一种光电芯片，其包括：第一光学输入对，其包括第一输入和第二输入，第一输入和第二输入均被适配于第一波长的不同的偏振；待测试的光子电路；以及第一光学耦合装置，其被配置成将第一光学输入对耦合到待测试的光子电路。

根据一个实施例，第一光学输入对的第一输入与第一光学输入对的第二输入平衡。

根据一个实施例，芯片还包括：第二光学耦合装置，其被耦合到第一光学耦合装置的输出，第二光学耦合装置被配置成将第一光学耦合装置的输出耦合到待测试的光子电路。

根据一个实施例，芯片还包括波导交叉装置，波导交叉装置被耦合在第一光学耦合装置和第二光学耦合装置之间。

根据一个实施例，芯片还包括：第三光学耦合装置，其被耦合到第二光学耦合装置的输出，第三光学耦合装置被配置成将第二光学耦合装置的输出耦合到待测试的光子电路。

根据一个实施例，芯片还包括：第二光学输入对，其包括第三输入和第四输入，第三输入和第四输入均被适配于不同的偏振，并且第三输入和第四输入均被适配于与第一波长不同的第二波长；以及第二光学耦合装置，其被配置成将第二光学输入对耦合到待测试的光子电路。

根据一个实施例，第一光学输入对具有与第二光学输入对不同的通带。

根据一个实施例，第一光学输入对的通带与第二光学输入对的通带相邻。