[发明专利]光学元件、辐射系统及光刻系统有效

专利信息
申请号: 201910106311.9 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN110083019B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: R·栋克尔;E·鲁普斯特拉;H-K·尼恩惠斯;B·克鲁兹卡 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G21K1/06;H01S3/09
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张启程
地址: 荷兰维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请公开了一种光学元件、辐射系统及光刻系统。该光学元件包括:主体;反射性表面,所述反射性表面设置于所述主体上以用于接收辐射束以便形成束斑区域和反射的辐射束;和移动机构,所述移动机构能够操作以移动所述主体使得所述束斑区域遵循周期性路径在所述反射性表面上移动,并且所述反射的辐射束的方向实质上保持不变;用于更改所述反射性表面的曲率的变形机构,其中所述变形机构被布置成更改所述反射性表面的所述曲率以便至少部分地校正由入射于所述反射性表面上的所述辐射束所导致的所述反射性表面的曲率。
搜索关键词: 光学 元件 辐射 系统 光刻
【主权项】:
1.一种光学元件,包括:主体;反射性表面,所述反射性表面设置于所述主体上以用于接收辐射束以便形成束斑区域和反射的辐射束;和移动机构,所述移动机构能够操作以移动所述主体使得所述束斑区域遵循周期性路径在所述反射性表面上移动,并且所述反射的辐射束的方向实质上保持不变;用于更改所述反射性表面的曲率的变形机构,其中所述变形机构被布置成更改所述反射性表面的所述曲率以便至少部分地校正由入射于所述反射性表面上的所述辐射束所导致的所述反射性表面的曲率。
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