[发明专利]双检测器气体检测系统有效
| 申请号： | 201910103438.5 | 申请日： | 2019-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN110514588B | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 理查德·高尔尼 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/17 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;蒋骏 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明题为“双检测器气体检测系统”。本发明提供的设备和相关方法涉及气体检测设备，该气体检测设备包括主光学元件，该主光学元件被配置为：(1)（在从光生成元件发射的光的第一部分已与目标介质相互作用之后）经由第二光学元件将光的第一部分引导至初级检测器，以及(2)经由第三光学元件将从光生成元件发射的光的第二部分引导至参考检测器。在各种示例中，主光学元件可为反射器。光生成元件可以是发光二极管。光学系可具有单一/整体模制的透明丙烯酸类树脂构造和内部反射表面。气体检测设备可使由光生成元件和初级检测器/参考检测器所使用的光学路径标准化，从而有利地提供可靠的操作。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 气体 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种气体检测设备，包括：/n光生成元件(115)；/n光学系(105)，所述光学系被配置成为由所述光生成元件生成的光提供光学路径以行进至和离开目标介质(110)，所述光学系包括第一反射表面(135)和第二反射表面(140)，其中所述光学系包括一体构造光学系，使得所述第一反射表面和所述第二反射表面与所述光学系整体地且一体地形成；/n初级检测器(125)；/n参考检测器(130)；和，/n光学元件(120)，所述光学元件设置在所述光学系内，所述光学元件被配置为：/n在由所述光生成元件生成的第一光流已与目标介质相互作用之后将所述第一光流偏转至所述第一反射表面，使得所述第一反射表面将所述第一光流偏转至所述初级检测器，以及，/n将由所述光生成元件生成的第二光流偏转至所述第二反射表面，使得所述第二反射表面将所述第二光流偏转至所述参考检测器。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于霍尼韦尔国际公司，未经霍尼韦尔国际公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910103438.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
