[发明专利]芯片的测试方法有效
| 申请号： | 201910089977.8 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN109613420B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 孙黎瑾 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的测试方法，针对无flash寄存器的独立IP芯片，进行不同温度下的trimming的dac值写入，包含：第一步，在某一温度下，对晶圆上的芯片进行模拟量的个性化trimming；第二步，将trimming得到的dac值及对应的坐标记录在指定文件中；第三步，升/降到其他的指定温度，调用所述的指定文件，将相应的坐标对应的个性化trimming的dac值进行重新载入；第四步，将载入的个性化trimming的dac值设置进芯片。本发明所述的芯片的测试方法，通过将某一温度的个性化trimming dac值及其坐标信息通过指定文件进行存储，并在变换温度需要重新调用时读取指定文件，查找并匹配相应坐标来实现个性化trimming dac值的重新载入，避免了人为干预，提高了测试效率，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片的测试方法，针对无flash寄存器的独立IP芯片，进行不同温度下的trimming的dac值写入，其特征在于：第一步，在某一温度下，对晶圆上的芯片进行模拟量的个性化trimming；第二步，将trimming得到的dac值及对应的坐标记录在指定文件中；第三步，升/降到其他的指定温度，调用所述的指定文件，将相应的坐标对应的个性化trimming的dac值进行重新载入；第四步，将载入的个性化trimming的dac值设置进芯片。
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