[发明专利]一种超声波物位计在审
申请号: | 201910084235.6 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN109540264A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 王顺强;王伟 | 申请(专利权)人: | 重庆兆洲科技发展有限公司 |
主分类号: | G01F23/296 | 分类号: | G01F23/296 |
代理公司: | 重庆图为知识产权代理事务所(普通合伙) 50233 | 代理人: | 蒋国荣 |
地址: | 400039 重庆市九*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明提供一种超声波物位计,包括:外壳、超声波传感器、反射器件、以及处理器,超声波传感器沿竖直方向设置,超声波传感器与反射器件之间的夹角为45度,超声波传感器用于发射以及接收超声波;反射器件用于对超声波传感器发射的超声波进行反射后,使得超声波垂直射出到被测物体;以及将从被测物体反射回来的超声波进行反射后,使得超声波垂直射入超声波传感器;处理器用于计算超声波物位计与被测物体之间的距离;在测量液位时,由于超声波传感器沿竖直方向设置,水滴在重力作用下,不会附着在超声波传感器的外表面;且在超声波传感器的外表面所在的整个平面涂覆纳米涂层,纳米涂层的导水性好,有效的防止了在超声波传感器的外表面结雾。 | ||
搜索关键词: | 超声波传感器 超声波 被测物体 反射器件 物位计 反射 方向设置 纳米涂层 处理器 竖直 垂直 重力作用 发射 测量液 夹角为 水滴 附着 结雾 射出 射入 涂覆 | ||
【主权项】:
1.一种超声波物位计,其特征在于,包括:外壳、超声波传感器、反射器件、以及处理器,所述超声波传感器、反射器件、以及处理器均设置在所述外壳内,所述超声波传感器沿竖直方向设置,所述超声波传感器与所述反射器件之间的夹角为45度,所述超声波传感器的外表面所在的整个平面涂覆有纳米涂层;所述超声波传感器,用于发射以及接收超声波;所述反射器件,用于对所述超声波传感器发射的超声波进行反射后,使得超声波垂直射出到被测物体;以及将从所述被测物体反射回来的超声波进行反射后,使得超声波垂直射入所述超声波传感器;所述处理器,用于根据所述超声波传感器发射以及接收超声波的时间差,计算所述超声波物位计与所述被测物体之间的距离。
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