[发明专利]一种超声波物位计在审
申请号: | 201910084235.6 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN109540264A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 王顺强;王伟 | 申请(专利权)人: | 重庆兆洲科技发展有限公司 |
主分类号: | G01F23/296 | 分类号: | G01F23/296 |
代理公司: | 重庆图为知识产权代理事务所(普通合伙) 50233 | 代理人: | 蒋国荣 |
地址: | 400039 重庆市九*** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波传感器 超声波 被测物体 反射器件 物位计 反射 方向设置 纳米涂层 处理器 竖直 垂直 重力作用 发射 测量液 夹角为 水滴 附着 结雾 射出 射入 涂覆 | ||
本发明提供一种超声波物位计,包括:外壳、超声波传感器、反射器件、以及处理器,超声波传感器沿竖直方向设置,超声波传感器与反射器件之间的夹角为45度,超声波传感器用于发射以及接收超声波;反射器件用于对超声波传感器发射的超声波进行反射后,使得超声波垂直射出到被测物体;以及将从被测物体反射回来的超声波进行反射后,使得超声波垂直射入超声波传感器;处理器用于计算超声波物位计与被测物体之间的距离;在测量液位时,由于超声波传感器沿竖直方向设置,水滴在重力作用下,不会附着在超声波传感器的外表面;且在超声波传感器的外表面所在的整个平面涂覆纳米涂层,纳米涂层的导水性好,有效的防止了在超声波传感器的外表面结雾。
技术领域
本发明涉及超声波物位计技术领域,更具体地说,涉及一种超声波物位计。
背景技术
超声波物位计是集超声、电子、软件于一身的高科技产品,是各类工业现场测量液位、料位的首选仪器。物位测量过程中,超声波由超声波传感器发出,经液体或固体物料表面反射后折回,由同一个超声波传感器接收,测量超声波的整个运行时间,从而实现物位的测量。
目前,超声波物位计的超声波传感器是采用水平设置的,超声波传感器的外表面与被测物体的表面平行,也即超声波传感器发出的超声波是直接射出到被测物体的表面;当采用此种超声波物位计测量液体时,容易在超声波传感器的外表面附着水珠,附着水珠使超声波传感器发出的超声波发生了折射,致使发射和接收的时间差不正确,然后处理器便计算出错误的液位,影响超声波测距结果。
因此,提出一种避免在超声波传感器的外表面附着水珠的超声波物位计,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种超声波物位计,旨在解决现有技术中,由于超声波物位计的超声波传感器是水平设置的,在测量液体时容易在超声波传感器的外表面附着水珠,影响超声波测距结果的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种超声波物位计,包括:
外壳、超声波传感器、反射器件、以及处理器,所述超声波传感器、反射器件、以及处理器均设置在所述外壳内,所述超声波传感器沿竖直方向设置,所述超声波传感器与所述反射器件之间的夹角为45度,所述超声波传感器的外表面所在的整个平面涂覆有纳米涂层;
所述超声波传感器,用于发射以及接收超声波;
所述反射器件,用于对所述超声波传感器发射的超声波进行反射后,使得超声波垂直射出到被测物体;以及将从所述被测物体反射回来的超声波进行反射后,使得超声波垂直射入所述超声波传感器;
所述处理器,用于根据所述超声波传感器发射以及接收超声波的时间差,计算所述超声波物位计与所述被测物体之间的距离。
可选地,还包括干扰处理器件,所述干扰处理器件沿水平方向设置,且设置在所述超声波传感器下方,所述干扰处理器件与所述超声波传感器位于同一侧,所述干扰处理器件的一端与所述外壳相连接,另一端与所述超声波传感器的外表面齐平;
所述干扰处理器件,用于对从所述被测物体反射回来的干扰超声波进行干扰减弱处理。
可选地,所述干扰处理器件包括吸音棉或毛刺。
可选地,所述反射器件的外表面是光滑且平坦的。
可选地,所述反射器件的外表面涂覆有纳米涂层。
可选地,所述外壳的内侧壁暴露在外的部分,涂覆有纳米涂层。
可选地,还包括显示单元,所述显示单元用于将所述处理器计算的所述超声波物位计与所述被测物体之间的距离进行显示;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆兆洲科技发展有限公司,未经重庆兆洲科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910084235.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。