[发明专利]一种磁瓦表面裂纹检测方法有效
| 申请号： | 201910049249.4 | 申请日： | 2019-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN109727244B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 朱培源;刘焱煜;钱翔 | 申请（专利权）人： | 深圳至汉装备科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 | 代理人： | 赵红霞 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种磁瓦表面裂纹检测方法，首先采集一系列表面没有缺陷的同一磁瓦的图像作为目标图像，对目标图像进行灰度值平均化处理，得到消除光照影响的模板图像；再对模板图像进行二维快速傅里叶变换后得到滤波器，同时根据裂纹特性建立裂纹区域；获取生产线上待检测磁瓦的待检测图像用滤波器进行滤波处理，对滤波后的待检测图像进行动态阈值分割和连通域分析，在发现某个图像区域符合裂纹区域的特征时，进行裂纹标记或报警，否则继续后续磁瓦的检测。本发明先期建立消除了光照影响的均值滤波器，然后对后续图像进行分析后处理，降低了磁瓦表面纹理对于裂纹检测的干扰，提升了整体算法针对裂纹检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表面 裂纹 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁瓦表面裂纹检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100，采集一系列表面没有缺陷的同一磁瓦的图像作为目标图像，然后对目标图像进行灰度值平均化处理，得到消除光照影响的模板图像；步骤200，对模板图像进行二维快速傅里叶变换，得到这些模板图像的频域分布，然后将频域幅值转换到0～1之间并保留相应的相位信息，得到滤波器，根据裂纹特性，将符合一定面积和长宽比的图像区域设定为裂纹区域；步骤300，获取生产线上待检测磁瓦的待检测图像，依次进行灰度值平均化处理和进行二维快速傅里叶变换，再用滤波器进行滤波处理；步骤400，对滤波后的待检测图像进行动态阈值分割，对分割后的图像区域进行连通域分析，在发现某个图像区域符合裂纹区域的特征时，进行裂纹标记或报警，否则继续后续磁瓦的检测。
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