[发明专利]一种磁瓦表面裂纹检测方法有效

专利信息
申请号: 201910049249.4 申请日: 2019-01-18
公开(公告)号: CN109727244B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 朱培源;刘焱煜;钱翔 申请(专利权)人: 深圳至汉装备科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/187;G01N21/88;G01N21/95
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 赵红霞
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 表面 裂纹 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种磁瓦表面裂纹检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤100,采集一系列表面没有缺陷的同一磁瓦的图像作为目标图像,然后对目标图像进行灰度值平均化处理,得到消除光照影响的模板图像;

步骤200,对模板图像进行二维快速傅里叶变换,得到这些模板图像的频域分布,然后将频域幅值转换到0~1之间并保留相应的相位信息,得到滤波器,根据裂纹特性,将符合一定面积和长宽比的图像区域设定为裂纹区域;

步骤300,获取生产线上待检测磁瓦的待检测图像,依次进行灰度值平均化处理和进行二维快速傅里叶变换,再用滤波器进行滤波处理;

步骤400,对滤波后的待检测图像进行动态阈值分割,对分割后的图像区域进行连通域分析,在发现某个图像区域符合裂纹区域的特征时,进行裂纹标记或报警,否则继续后续磁瓦的检测。

2.根据权利要求1所述的磁瓦表面裂纹检测方法,其特征在于,

所述步骤100中,目标图像包括磁瓦的外弧面整体图像或磁瓦内弧面整体图像,且外弧面整体图像或磁瓦内弧面整体图像生成的滤波器分别检测相应的外弧面整体图像或磁瓦内弧面整体图像。

3.根据权利要求1所述的磁瓦表面裂纹检测方法,其特征在于,

所述步骤100中,所述对目标图像进行灰度值平均化处理过程为:

遍历目标图像的所有像素点,累加求取所有像素点的灰度值总和,再用灰度值总和除像素点个数,所得结果即为平均灰度值,然后将目标图像中各部分图像的灰度值减去平均灰度值。

4.根据权利要求1所述的磁瓦表面裂纹检测方法,其特征在于,

所述步骤400中的动态阈值分割为将待检测图像与滤波后图像差分后实现。

5.根据权利要求1所述的磁瓦表面裂纹检测方法,其特征在于,

在连通域分析后某个图像区域的长宽比小于0.5时,则认为当前磁瓦存在裂纹,否则该磁瓦不存在裂纹。

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