[发明专利]一种UV划片膜与底膜易撕效果的评估方法在审

专利信息
申请号: 201910044439.7 申请日: 2019-01-17
公开(公告)号: CN109781617A 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 崔庆珑;魏成龙 申请(专利权)人: 威士达半导体科技(张家港)有限公司
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 宋南
地址: 215000 江苏省苏州市张家港市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种UV划片膜与底膜易撕效果的评估方法,采用标准胶带作为底膜,将底膜黏贴到带有双面胶的标准钢板上,胶带胶面朝上,裁成试条,压辊后,将附着在离型膜上的UV膜与标准胶带的胶面充分贴合,做90°剥离测试,测试结果小于5N即为合格,否则判定为不合格,该评估方法,方便、简单、易操作,并且将意易私除效果合理量化,评价方法直观、有效、合理,易被接受和应用。
搜索关键词: 底膜 标准胶带 划片膜 胶面 易撕 评估 标准钢板 离型膜 双面胶 胶带 朝上 附着 试条 贴合 压辊 易被 判定 剥离 直观 量化 测试 应用
【主权项】:
1.一种UV划片膜与底膜易撕效果的评估方法,其特征在于,包括以下步骤:采用标准胶带作为底膜,将底膜黏贴到带有双面胶的标准钢板上,胶带胶面朝上,裁成试条,压辊后,将附着在离型膜上的UV膜与标准胶带的胶面充分贴合,做90°剥离测试,测试结果小于5N即为合格,否则判定为不合格。
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