[发明专利]集成增强型和耗尽型的HEMT及其制造方法有效
申请号: | 201910003343.6 | 申请日: | 2019-01-04 |
公开(公告)号: | CN109742072B | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | 倪贤锋;范谦;何伟 | 申请(专利权)人: | 苏州汉骅半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/085 | 分类号: | H01L27/085;H01L21/8232;H01L29/778 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明所提出的集成增强型和耗尽型的HEMT及其制造方法,可以将增强型和耗尽型晶体管集成在一起,有利于增加氮化镓HEMT器件的用途,提高电路的特性,并且为实现单片集成高速数字/模拟混合信号射频电路奠定了基础。同时,利用缓冲层的再生长以及掺杂需求,将杂质产生的电子变为掺杂层的一部分,提高掺杂浓度的同时防止多余的电子对器件产生干扰。 | ||
搜索关键词: | 增强型 耗尽型 掺杂 氮化镓HEMT器件 耗尽型晶体管 模拟混合信号 单片集成 高速数字 射频电路 掺杂层 缓冲层 再生长 制造 电路 | ||
【主权项】:
1.一种集成增强型与耗尽型的HEMT制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,在所述衬底上依次形成第一缓冲层、第一势垒层和第一沟道层;在所述第一沟道层上形成介质层,并选择性的刻蚀所述介质层、第一沟道层、第一势垒层和第一缓冲层,以暴露出部分第一缓冲层;在暴露出的部分第一缓冲层上进行再生长,依次形成第二缓冲层、第二势垒层和第二沟道层,所述第一势垒层的厚度与所述第二势垒层的厚度不同;去除所述介质层,在所述第一沟道层上形成第一源极、第一漏极和第一栅极,在所述第二沟道层上形成第二源极、第二漏极和第二栅极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州汉骅半导体有限公司,未经苏州汉骅半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910003343.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的