[发明专利]集成增强型和耗尽型的HEMT及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201910003343.6 申请日: 2019-01-04
公开(公告)号: CN109742072B 公开(公告)日: 2019-08-16
发明(设计)人: 倪贤锋;范谦;何伟 申请(专利权)人: 苏州汉骅半导体有限公司
主分类号: H01L27/085 分类号: H01L27/085;H01L21/8232;H01L29/778
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明所提出的集成增强型和耗尽型的HEMT及其制造方法,可以将增强型和耗尽型晶体管集成在一起,有利于增加氮化镓HEMT器件的用途,提高电路的特性,并且为实现单片集成高速数字/模拟混合信号射频电路奠定了基础。同时,利用缓冲层的再生长以及掺杂需求,将杂质产生的电子变为掺杂层的一部分,提高掺杂浓度的同时防止多余的电子对器件产生干扰。
搜索关键词: 增强型 耗尽型 掺杂 氮化镓HEMT器件 耗尽型晶体管 模拟混合信号 单片集成 高速数字 射频电路 掺杂层 缓冲层 再生长 制造 电路
【主权项】:
1.一种集成增强型与耗尽型的HEMT制造方法,其特征在于,包括:提供衬底,在所述衬底上依次形成第一缓冲层、第一势垒层和第一沟道层;在所述第一沟道层上形成介质层,并选择性的刻蚀所述介质层、第一沟道层、第一势垒层和第一缓冲层,以暴露出部分第一缓冲层;在暴露出的部分第一缓冲层上进行再生长,依次形成第二缓冲层、第二势垒层和第二沟道层,所述第一势垒层的厚度与所述第二势垒层的厚度不同;去除所述介质层,在所述第一沟道层上形成第一源极、第一漏极和第一栅极,在所述第二沟道层上形成第二源极、第二漏极和第二栅极。
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