[发明专利]具有多个测量通道的X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法在审
| 申请号： | 201880094863.6 | 申请日： | 2018-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN112313506A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | T·科斯基宁;A·佩里;H·西皮拉 | 申请（专利权）人： | 奥图泰(芬兰)公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;B03B13/06;G21K1/06;C22B3/02;G01T1/16 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 聂慧荃;郑特强 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料的样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601、1501)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。其包括第一晶体(603、1502)和第一辐射检测器(602、1505)，该第一辐射检测器被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体(603、1502)衍射的荧光X射线。第二晶体衍射仪(1511)相对于所述浆料处理单元(201)沿第二方向定位。其包括第二晶体(1512)和第二辐射检测器(1515)，该第二辐射检测器被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体(1512)衍射的荧光X射线。所述第一晶体(603、1502)是热解石墨晶体，所述第二晶体(1512)包括热解石墨以外的材料，并且所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测量 通道 射线 荧光 分析 用于 执行 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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