[发明专利]处理单晶硅铸锭以改善激光散射环状/核状图案的方法在审
申请号: | 201880076551.2 | 申请日: | 2018-12-10 |
公开(公告)号: | CN111406129A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 池浚焕;郑义成;金正汉;李荣中;赵灿来;崔源进 | 申请(专利权)人: | 环球晶圆股份有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B33/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 江葳 |
地址: | 中国台湾新竹市科学*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭示一种用于减小单晶硅晶片中的缺陷的大小及密度的方法。所述方法涉及在晶片切割之前使单晶硅铸锭经受退火。 | ||
搜索关键词: | 处理 单晶硅 铸锭 改善 激光 散射 环状 图案 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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