[发明专利]用于测试毫米波设备的方法和装置在审
| 申请号： | 201880048632.1 | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN110945804A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | M·L·维斯;P·马德胡苏德哈南 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/14;H04B17/18;H04B17/391 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈炜;亓云 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的某些方面涉及用于测试毫米波设备的方法和装置。该方法包括：针对测试腔室的至少一个天线确定DUT的参考天线响应，基于所确定的参考天线响应来为该至少一个天线生成一个或多个衰落系数，将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号，以及经由该至少一个天线将该至少一个信号传送至测试腔室中的DUT。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 毫米波 设备 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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