[发明专利]用于测试毫米波设备的方法和装置

权利要求书

1.一种测试无线被测设备(DUT)的方法，所述方法包括：

针对测试腔室的至少一个天线确定所述DUT的参考天线响应；

基于所确定的参考天线响应来为所述至少一个天线生成一个或多个衰落系数；

将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号；以及

经由所述至少一个天线将所述至少一个信号传送至所述测试腔室中的所述DUT。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，非恒定增益被应用于所述至少一个所选择的群集。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个天线包括多个天线。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是针对所述至少一个天线的第一极性的，并且所述方法进一步包括：针对所述至少一个天线的第二极性确定所述DUT的第二参考天线响应。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是针对所述至少一个天线的多个极性的。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试腔室包括多个附加天线。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集，并且其中所述多个附加天线的每一者代表基于所述经群集延迟线模型和所述多个附加天线的一个或多个参考天线响应而从所述多个群集中选择的零个或更多个群集。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集，其中所述多个附加天线的每一者代表基于所述经群集延迟线模型和所述多个附加天线的一个或多个参考天线响应而从所述多个群集中选择的零个或更多个群集，并且其中非恒定增益被应用于所述零个或更多个所选择的群集的每一者。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括：针对所述多个附加天线的第二天线确定所述DUT的第二参考天线响应。

11.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括：

针对所述多个附加天线的一者或多者确定所述DUT的一个或多个参考天线响应；

基于对应的一个或多个所确定的参考天线响应来为所述多个附加天线的该一者或多者中的每一者生成一个或多个衰落系数；

将针对所述多个附加天线的该一者或多者中的每一者所生成的一个或多个衰落系数应用于与所述多个附加天线的该一者或多者相对应的一个或多个信号；以及

经由所述多个附加天线中相对应的一者或多者来将所述一个或多个信号传送至所述测试腔室中的所述DUT。

12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是经波束成形的。

13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是定向的。

14.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，生成一个或多个衰落系数进一步基于经群集延迟线(CDL)模型。