[发明专利]光学频率梳偏移频率的量子干涉检测在审

专利信息
申请号: 201880038251.5 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN110731052A 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 史蒂文·T·坎迪夫;约翰·希佩;王凯;罗德里戈·穆尼兹 申请(专利权)人: 密歇根大学董事会
主分类号: H03L7/26 分类号: H03L7/26;G01R33/26;H01S1/06;G02F1/01;H04B10/80
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 唐京桥;杨林森
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提出了用于确定频率梳的偏移频率的方法。该方法包括:生成具有在时域中有规律地重复并且在频域中呈现频率梳的波形的光束;将光束指向材料上的入射点;以及检测由光束引起的材料中的光电流的振荡。值得注意的是,光束具有包括以第一频率传播的光和以第二频率传播的光的光学带宽,其中,第一频率小于第二频率,并且第二频率与第一频率之比为n∶m,其中,n=m+i,m为大于1的整数,以及n和i为正整数。另外,材料具有带隙并且带隙不大于第一频率的n倍。
搜索关键词: 频率传播 频率梳 带隙 光束指向 光学带宽 偏移频率 光电流 入射点 正整数 振荡 频域 时域 检测 重复
【主权项】:
1.一种用于确定频率梳的偏移频率的方法,包括:/n生成具有在时域中有规律地重复并且在频域中呈现频率梳的波形的光束,其中,所述光束具有光学带宽,所述光学带宽包括以第一频率传播的光和以第二频率传播的光,其中,所述第一频率小于所述第二频率,并且所述第二频率与所述第一频率之比为3∶2;/n将所述光束指向材料上的入射点,其中,所述材料具有带隙并且所述带隙不大于所述第一频率的三倍;以及/n检测由所述光束引起的所述材料中的光电流的振荡。/n
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