[发明专利]脑功能测量装置和脑功能测量方法有效
| 申请号： | 201880024648.9 | 申请日： | 2018-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110520057B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 山田亨 | 申请（专利权）人： | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | A61B10/00 | 分类号： | A61B10/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 潘树志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法，能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题，提供一种脑功能测量装置，具备：第一光照射探头(S1)，向被检体的脑照射光；第一光检测探头(D1)，与第一光照射探头(S1)相邻设置，对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测；第二光照射探头(S2)，与第一光检测探头(D1)相邻设置，向被检体的脑照射光；第二光检测探头(D2)，与第二光照射探头(S2)相邻设置，对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测；以及控制部(3)，对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节，以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值，并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节，以对第二光照射探头(S2)与第二光检测探头(D2)之间的通道所测量到的光量达到上述观测值。 | ||
| 搜索关键词： | 功能 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种脑功能测量装置，其特征在于，/n所述脑功能测量装置具备：/n第一照射单元，向被检体的脑照射光；/n第一检测单元，与所述第一照射单元相邻设置，对从所述第一照射单元所照射的光中被所述脑反射的光进行检测；/n第二照射单元，与所述第一检测单元相邻设置，向所述被检体的脑照射光；/n第二检测单元，与所述第二照射单元相邻设置，对从所述第二照射单元所照射的光中被所述脑反射的光进行检测；以及/n控制单元，对由所述第二照射单元照射的光量进行第一调节，以使在所述第一检测单元与所述第二照射单元之间的测量点所测量到的光量达到在所述第一照射单元与所述第一检测单元之间的测量点所观测到的观测值，并且对由所述第二检测单元检测的光量进行第二调节，以使在所述第二照射单元与所述第二检测单元之间的测量点所测量到的光量达到所述观测值。/n
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