[发明专利]脑功能测量装置和脑功能测量方法

说明书

提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法，能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题，提供一种脑功能测量装置，具备：第一光照射探头(S1)，向被检体的脑照射光；第一光检测探头(D1)，与第一光照射探头(S1)相邻设置，对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测；第二光照射探头(S2)，与第一光检测探头(D1)相邻设置，向被检体的脑照射光；第二光检测探头(D2)，与第二光照射探头(S2)相邻设置，对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测；以及控制部(3)，对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节，以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值，并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节，以对第二光照射探头(S2)与第二光检测探头(D2)之间的通道所测量到的光量达到上述观测值。

技术领域

本发明涉及用于测量脑的功能的装置和方法。

背景技术

近年来，作为简便的脑功能测量方法，已知功能性近红外分光法(functionalnear infrared spectroscopy：fNIRS)。使探头对准头皮来进行使用该fNIRS的测量，但根据探头正下方的毛发的多少、探头与头皮的紧贴性而在头皮与探头之间产生的光衰减的大小不同。因此，由于信噪比在每个测量点(通道)均明显不同，因此无法对所测量的信号应用严格的统计解析。

根据这样的背景，如专利文献1所示，设计出使在各通道中所测量的所有信号的噪音方差相等的技术。即，本技术通过在各光源、各检测器与生物体之间导入光衰减器并控制它们的光透射率，从而使所有通道中的观测光量平均化，并谋求噪音方差的平均化。另外，基于测量值来设定各光衰减器的光透射率。

专利文献1：WO2016132989号公报

发明内容

在专利文献1所示的技术中，针对所有光衰减器，存在有必要进行尽可能准确的校准这一问题。

本发明是为了解决这样的问题而完成的，目的在于提供一种能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度的脑功能测量装置和脑功能测量方法。

为了解决上述课题，本发明提供一种脑功能测量装置，具备：第一照射单元，向被检体的脑照射光；第一检测单元，与第一照射单元相邻设置，对从第一照射单元向第一方向所照射的光中由脑反射的光进行检测；第二照射单元，与第一检测单元相邻设置，向被检体的脑照射光；第二检测单元，与第二照射单元相邻设置，对从第二照射单元所照射的光中被脑反射的光进行检测；以及控制单元，以使针对在第一检测单元与第二照射单元之间的测量点所测量的光量达到针对在第一照射单元与第一检测单元之间的测量点所观测到的观测值的方式来对由第二照射单元照射的光量进行调节，并且以使针对在第二照射单元与第二检测单元之间的测量点所测量的光量达到上述观测值的方式来对由第二检测单元检测的光量进行调节。

此外，为了解决上述课题，本发明提供一种脑功能测量方法，是通过向被检体照射光并对在脑中反射的光进行检测而测量脑的功能的脑功能测量方法，具有：第一步骤，调节由第二照射单元所照射的光量，以使得针对在相邻的第一检测单元与第二照射单元之间的测量点所测量的光量达到针对在第一检测单元与相邻于第一检测单元的第一照射单元之间的测量点所观测到的观测值；以及第二步骤，调节由第二检测单元所检测的光量，以使得针对在第二照射单元与相邻于第二照射单元的第二检测单元之间的测量点所测量的光量达到上述观测值。

发明效果

根据本发明，能够提供一种能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度的脑功能测量装置和脑功能测量方法。

附图说明

图1是示出本发明的实施方式的脑功能测量系统的结构的图。

图2是示出图1所示的保持垫20上的光照射探头S1、S2以及光检测探头D1、D2的第一配置例的图。