[发明专利]用于以温度补偿的方式光学检测流体的氧含量的设备有效
| 申请号： | 201880018188.9 | 申请日： | 2018-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN110741243B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 马尔科·贾尔迪纳;贝恩德·奥芬贝克;克里斯托夫·施兰茨;托马斯·劳布舍尔;多米尼克·诺沃特尼;迪尔克·肖恩福斯 | 申请（专利权）人： | 哈美顿博纳图斯股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王逸君;丁永凡 |
| 地址： | 瑞士博*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 传感器装置包括反应组件(72)，所述反应组件具有壳体(52)和探测器组件(54)，其中在壳体(52)中设置有层构件装置(60)，所述层构件装置(60)包括：‑包含发光物质的反应层体(62)，所述反应层体能够通过用第一波长的第一电磁辐射辐照来激发，以放射不同于所述第一波长的第二波长的第二电磁辐射，和‑发射红外辐射(I)的温度‑检测层体(64)，其中壳体(62)具有开口(78a，78b)，流体能够穿过所述开口，其中壳体(52)具有反应窗(66a)和在空间上远离所述反应窗设置的温度‑检测窗(66b)，其中反应窗(66a)传送第一(E1)和第二电磁辐射(E2)，并且其中所述检测窗(66b)可由红外辐射(I)穿透，其中探测器组件(54)包括：‑辐射源(82)，所述辐射源构成用于放射第一电磁辐射(E1)，‑辐射探测器(86)，所述辐射探测器构成用于检测第二电磁辐射(E2)；和‑红外探测器(90)，所述红外探测器构成用于通过温度‑检测窗(66b)检测从温度‑检测层体(64)放射的红外辐射(I)。根据本发明提出，反应层体(62)和温度‑检测层体(64)彼此独立地构成。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 温度 补偿 方式 光学 检测 流体 含量 设备 | ||
【主权项】：
1.一种面状的层构件装置(60)，所述层构件装置用于以温度补偿的方式、光学地检测流体的氧含量，其中所述面状的层构件装置(60)包括：/n-包含发光物质的反应层体(62)，所述反应层体的发光物质能够通过用第一波长的第一电磁辐射(E1)辐照来激发，以放射不同于所述第一波长的第二波长的第二电磁辐射(E2)，其中所述发光物质的被激发的放射特性与接触所述发光物质的流体中的氧分压相关，和/n-发射红外辐射(I)的温度-检测层体(64)，/n其特征在于，所述反应层体(62)和所述温度-检测层体(64)彼此独立地构成。/n
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