[实用新型]半导体组件有效

专利信息
申请号: 201822010766.4 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN209183546U 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 肖东辉 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种半导体组件,包括基板;形成在基板上的多晶硅层,多晶硅层包括源极、通道及漏极,其中源极及漏极形成在多晶硅层的二侧,形成在源极及漏极之间的通道;形成在多晶硅层上的栅极绝缘层;形成在栅极绝缘层上的栅极,且栅极形成在通道的正上方;形成在栅极上方且覆盖栅极的内层介电层,内层介电层通过离子布植植入氢原子且经高温快速回火形成氢化的内层介电层;穿过氢化的内层介电层的上表面的金属导线,且分别与源极及漏极接触;以及覆盖氢化的内层介电层的钝化层。
搜索关键词: 内层介电层 多晶硅层 源极 漏极 氢化 半导体组件 栅极绝缘层 基板 本实用新型 金属导线 快速回火 漏极接触 栅极形成 钝化层 氢原子 上表面 布植 覆盖 植入 离子 穿过
【主权项】:
1.一种半导体组件,其特征在于,包括:基板;多晶硅层,其中所述多晶硅层形成在所述基板上,所述多晶硅层包括源极、通道及漏极,所述源极及所述漏极形成在所述多晶硅层的二侧,所述通道形成在所述源极及所述漏极之间;栅极绝缘层,其中所述栅极绝缘层形成在所述多晶硅层上;栅极,其中所述栅极形成在所述栅极绝缘层上,且所述栅极形成在所述通道的正上方;内层介电层,其中所述内层介电层形成在所述栅极上方且覆盖所述栅极,所述内层介电层通过离子布植植入氢原子且经高温快速回火形成氢化的内层介电层;金属导线,其中所述金属导线穿过所述氢化的内层介电层的上表面,且分别与所述源极及所述漏极接触;以及钝化层,其中所述钝化层覆盖所述氢化的内层介电层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201822010766.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top