[实用新型]半导体组件有效
申请号: | 201822010766.4 | 申请日: | 2018-11-30 |
公开(公告)号: | CN209183546U | 公开(公告)日: | 2019-07-30 |
发明(设计)人: | 肖东辉 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型公开一种半导体组件,包括基板;形成在基板上的多晶硅层,多晶硅层包括源极、通道及漏极,其中源极及漏极形成在多晶硅层的二侧,形成在源极及漏极之间的通道;形成在多晶硅层上的栅极绝缘层;形成在栅极绝缘层上的栅极,且栅极形成在通道的正上方;形成在栅极上方且覆盖栅极的内层介电层,内层介电层通过离子布植植入氢原子且经高温快速回火形成氢化的内层介电层;穿过氢化的内层介电层的上表面的金属导线,且分别与源极及漏极接触;以及覆盖氢化的内层介电层的钝化层。 | ||
搜索关键词: | 内层介电层 多晶硅层 源极 漏极 氢化 半导体组件 栅极绝缘层 基板 本实用新型 金属导线 快速回火 漏极接触 栅极形成 钝化层 氢原子 上表面 布植 覆盖 植入 离子 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种半导体组件,其特征在于,包括:基板;多晶硅层,其中所述多晶硅层形成在所述基板上,所述多晶硅层包括源极、通道及漏极,所述源极及所述漏极形成在所述多晶硅层的二侧,所述通道形成在所述源极及所述漏极之间;栅极绝缘层,其中所述栅极绝缘层形成在所述多晶硅层上;栅极,其中所述栅极形成在所述栅极绝缘层上,且所述栅极形成在所述通道的正上方;内层介电层,其中所述内层介电层形成在所述栅极上方且覆盖所述栅极,所述内层介电层通过离子布植植入氢原子且经高温快速回火形成氢化的内层介电层;金属导线,其中所述金属导线穿过所述氢化的内层介电层的上表面,且分别与所述源极及所述漏极接触;以及钝化层,其中所述钝化层覆盖所述氢化的内层介电层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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