[实用新型]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201821955535.4 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN209199942U 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 大藤彻;谢明达 申请(专利权)人: 捷苙科技股份有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/417
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 董科
地址: 中国台湾苗粟*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体装置,包括门极金属垫、源极金属垫与漏极金属垫,半导体装置还包括基底、顶端与至少一个侧壁,基底相对于顶端,至少一个侧壁连接顶端与基底,门极金属垫、源极金属垫与漏极金属垫分别形成于相对基底另一侧的顶端的平面上,其中源极金属垫与漏极金属垫的至少一部分分别延伸至相邻顶端的侧壁。本实用新型通过分别延伸门极金属垫、源极金属垫与漏极金属垫的至少一部分至相邻顶端的侧壁,能够减少所制备的半导体装置本身的体积,进而增加制备半导体装置的晶圆的使用效率。
搜索关键词: 半导体装置 漏极金属 源极金属 基底 金属垫 侧壁 门极 制备半导体装置 本实用新型 侧壁连接 使用效率 延伸 晶圆 制备
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括门极金属垫、源极金属垫与漏极金属垫,其特征在于:所述半导体装置还包括基底、顶端与至少一个侧壁,所述基底相对于所述顶端,所述至少一个侧壁连接所述顶端与所述基底,所述门极金属垫、所述源极金属垫与所述漏极金属垫分别形成于相对所述基底另一侧的所述顶端的平面上,其中所述源极金属垫与所述漏极金属垫的至少一部分分别延伸至相邻所述顶端的所述侧壁。
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