[实用新型]电磁兼容性综合测试分析仪有效

专利信息
申请号: 201821947372.5 申请日: 2018-11-23
公开(公告)号: CN209198574U 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 杨婉;孙晋栋;周阔;郭晋伟;朱青青;李长安 申请(专利权)人: 北京泰派斯特科技发展有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 代理人: 郭亚芳
地址: 100089 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种电磁兼容性综合测试分析仪,包括:分析仪机壳;设置在分析仪机壳内部的内置测试装置;内置测试装置包括相互连接的LISN装置和共差模分离装置;与内置测试装置相连接的信号处理装置;与信号处理装置相连接的运算控制装置;信号处理装置与运算控制装置均设置在分析仪机壳内部。本申请的分析仪既可以直接测试传导发射的传导干扰总量,又能直接测试得到组成该传导干扰总量的共模干扰量和差模干扰量的具体量值,在此过程中无需人工搭建LISN装置和共差模分离装置以得到整体的测试系统,集成了LISN装置和共差模分离装置的本申请的分析仪无需人工重新搭建测试系统,直接连接被测设备进行测试即可,而且集成后的分析仪更加便于携带和搬运。
搜索关键词: 分析仪 信号处理装置 分析仪机壳 分离装置 内置测试 差模 电磁兼容性 测试系统 传导干扰 直接测试 综合测试 申请 运算控制装置 被测设备 便于携带 差模干扰 共模干扰 控制装置 与运算 传导 搬运 测试 发射
【主权项】:
1.一种电磁兼容性综合测试分析仪,其特征在于,包括:分析仪机壳;设置在分析仪机壳内部的内置测试装置;所述内置测试装置包括相互连接的LISN装置和共差模分离装置;与所述内置测试装置相连接的信号处理装置;与所述信号处理装置相连接的运算控制装置;所述信号处理装置与所述运算控制装置均设置在所述分析仪机壳内部。
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