[实用新型]电磁兼容性综合测试分析仪有效
| 申请号： | 201821947372.5 | 申请日： | 2018-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN209198574U | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 杨婉;孙晋栋;周阔;郭晋伟;朱青青;李长安 | 申请（专利权）人： | 北京泰派斯特科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 郭亚芳 |
| 地址： | 100089 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分析仪 信号处理装置 分析仪机壳 分离装置 内置测试 差模 电磁兼容性 测试系统 传导干扰 直接测试 综合测试 申请 运算控制装置 被测设备 便于携带 差模干扰 共模干扰 控制装置 与运算 传导 搬运 测试 发射 | ||
1.一种电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，包括：
分析仪机壳；
设置在分析仪机壳内部的内置测试装置；所述内置测试装置包括相互连接的LISN装置和共差模分离装置；
与所述内置测试装置相连接的信号处理装置；
与所述信号处理装置相连接的运算控制装置；
所述信号处理装置与所述运算控制装置均设置在所述分析仪机壳内部。
2.根据权利要求1所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述信号处理装置包括相互连接的频谱模块和跟踪源模块。
3.根据权利要求2所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述运算控制装置包括互相连接的中央处理单元和硬件电路系统。
4.根据权利要求3所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，还包括显示装置，所述显示装置与所述硬件电路系统相连接。
5.根据权利要求2所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述共差模分离装置与所述频谱模块相连接。
6.根据权利要求3所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述共差模分离装置与所述频谱模块相连接；
所述频谱模块与所述硬件电路系统相连接。
7.根据权利要求4所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述共差模分离装置与所述频谱模块相连接；
所述频谱模块与所述硬件电路系统相连接。
8.根据权利要求1～7任一项所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述LISN装置的型号为TP-LISN-50-10A02。
9.根据权利要求2～7任一项所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述跟踪源模块的型号为SA10；
所述频谱模块的型号为MSA830。
10.根据权利要求3、4、6或7任一项所述的电磁兼容性综合测试分析仪，其特征在于，所述中央处理单元的型号为TP01。
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