[实用新型]半导体器件及重布线层结构有效

专利信息
申请号: 201821885774.7 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN209119090U 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 吴秉桓;许文豪 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/522;H01L23/528;H01L21/768
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 袁礼君;阚梓瑄
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开提供一种半导体器件及重布线层结构,涉及半导体技术领域。该重布线层结构包括基底、第一导电层、加强层和第二导电层。第一导电层设于基底,且具有第一焊垫区;加强层设于第一导电层远离基底的表面,且位于第一焊垫区;第二导电层覆盖加强层和第一导电层未被加强层覆盖的区域;加强层为导电材质,且加强层的材料的强度大于第一导电层和第二导电层。本公开的重布线层结构可提升半导体器件的性能。
搜索关键词: 加强层 第一导电层 重布线层 半导体器件 第二导电层 基底 焊垫区 半导体技术领域 导电材质 覆盖
【主权项】:
1.一种重布线层结构,其特征在于,包括:基底;第一导电层,设于所述基底,且具有第一焊垫区;加强层,设于所述第一导电层远离所述基底的表面,且位于所述第一焊垫区;第二导电层,覆盖所述加强层和所述第一导电层未被所述加强层覆盖的区域;所述加强层为导电材质,且所述加强层的材料的强度大于所述第一导电层和所述第二导电层。
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