[实用新型]光电探测器、光电探测器阵列和光电探测终端有效
| 申请号： | 201821854040.2 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN209045574U | 公开（公告）日： | 2019-06-28 |
| 发明（设计）人： | 臧凯;李爽;贾捷阳 | 申请（专利权）人： | 深圳市灵明光子科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/0216 | 分类号： | H01L31/0216;H01L31/0352;H01L31/09 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 韩瑞 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及光子探测技术领域，特别是涉及一种光电探测器、光电探测器阵列和光电探测终端。本申请实施例中提供了一种光电探测器，包括衬底和形成于该衬底之上的光学谐振腔：所述光学谐振腔可包括：光吸收层，具有相对的光线入射外表面和底部外部表面，以及位于所述光线入射表面与所述底部表面之间的外侧壁；陷光结构层，覆盖于所述光线入射表面；以及光反射结构层，覆盖于所述光吸收层的所述底部外表面和/或所述外侧壁上；其中，所述光反射结构层用于反射透过所述陷光结构层射入所述光学谐振腔中的外部光线，以增加该外部光线在所述光吸收层中的传播光程，进而有效提升光电探测器的光子吸收效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光电探测器 光学谐振腔 光吸收层 光电探测器阵列 光线入射表面 光反射结构 光电探测 外部光线 陷光结构 外侧壁 衬底 终端 光子探测技术 光子吸收效率 本实用新型 底部外表面 底部表面 光线入射 外部表面 光程 射入 反射 覆盖 传播 申请 | ||
【主权项】：
1.一种光电探测器，其特征在于，包括衬底和形成于该衬底之上的光学谐振腔：所述光学谐振腔包括：光吸收层，具有相对的光线入射外表面和底部外部表面，以及位于所述光线入射表面与所述底部表面之间的外侧壁；陷光结构层，覆盖于所述光线入射表面；以及光反射结构层，覆盖于所述光吸收层的所述底部外表面和/或所述外侧壁上；其中，所述光反射结构层用于反射透过所述陷光结构层射入所述光学谐振腔中的外部光线，以增加该外部光线在所述光吸收层中的传播光程。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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