[实用新型]一种用于闪存颗粒快速验证的装置有效
| 申请号： | 201821825005.8 | 申请日： | 2018-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN209000546U | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 陈迅 | 申请（专利权）人： | 深圳捷誊技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 郭伟刚 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于闪存颗粒快速验证的装置，包括PCB板，以及安装在所述PCB板上的测试座、主控芯片和接口，所述测试座和接口分别与所述主控芯片电连接，所述测试座包括安装在所述PCB板上的底座、设置于所述底座中且与所述主控芯片电连接的弹针以及可扣合在所述底座上的上盖，在所述底座上设有可放置闪存颗粒的凹槽，当所述上盖盖于所述底座上时，所述弹针将与放置于所述凹槽内的闪存颗粒相接触，所述主控芯片为xillinx FPGA芯片，所述接口为SFF‑8639高速接口。本实用新型可实现随时随地更换闪存颗粒进行快速测试，操作简单灵活，扩展性强。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 底座 主控芯片 测试座 本实用新型 电连接 弹针 上盖 验证 扩展性 高速接口 快速测试 颗粒相 可扣合 灵活 | ||
【主权项】：
1.一种用于闪存颗粒快速验证的装置，其特征在于，包括PCB板，以及安装在所述PCB板上的测试座、主控芯片和接口，所述测试座和接口分别与所述主控芯片电连接，所述测试座包括安装在所述PCB板上的底座、设置于所述底座中且与所述主控芯片电连接的弹针以及可扣合在所述底座上的上盖，在所述底座上设有可放置闪存颗粒的凹槽，当所述上盖盖于所述底座上时，所述弹针将与放置于所述凹槽内的闪存颗粒相接触，所述主控芯片为Xillinx FPGA芯片，所述接口为SFF‑8639高速接口。
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