[实用新型]一种用于闪存颗粒快速验证的装置

说明书

本实用新型涉及一种用于闪存颗粒快速验证的装置，包括PCB板，以及安装在所述PCB板上的测试座、主控芯片和接口，所述测试座和接口分别与所述主控芯片电连接，所述测试座包括安装在所述PCB板上的底座、设置于所述底座中且与所述主控芯片电连接的弹针以及可扣合在所述底座上的上盖，在所述底座上设有可放置闪存颗粒的凹槽，当所述上盖盖于所述底座上时，所述弹针将与放置于所述凹槽内的闪存颗粒相接触，所述主控芯片为xillinx FPGA芯片，所述接口为SFF‑8639高速接口。本实用新型可实现随时随地更换闪存颗粒进行快速测试，操作简单灵活，扩展性强。

技术领域

本实用新型涉及存储设备领域，具体而言，涉及一种用于闪存颗粒快速验证的装置。

背景技术

在固态硬盘的制造领域中，每个固态硬盘上使用的闪存颗粒的需求数量非常多，普通的一个固态硬盘上闪存颗粒的数量达到4-16颗之多，闪存颗粒品质的好坏直接影响到固态硬盘的品质。因此，为保证固态硬盘工作的稳定性和数据资料的安全性，专业固态硬盘制造企业必须配有闪存颗粒检测设备用于筛选固态硬盘用的闪存颗粒。传统的闪存颗料验证是把闪存颗料焊接到所验证的PCB板上，手工焊接的风险大，机器焊接成本高，且不灵活，扩展性差，大大增加了企业的生产成本，同时也降低了生产效率；此外，现有的闪存颗料验证装置速度较慢，不适于多个闪存颗粒的快速验证。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种用于闪存颗粒快速验证的装置，可实现随时随地更换闪存颗粒进行快速测试，操作简单灵活，扩展性强。

本实用新型采用的技术方案是：提供一种用于闪存颗粒快速验证的装置，包括PCB板，以及安装在所述PCB板上的测试座、主控芯片和接口，所述测试座和接口分别与所述主控芯片电连接，所述测试座包括安装在所述PCB板上的底座、设置于所述底座中且与所述主控芯片电连接的弹针以及可扣合在所述底座上的上盖，在所述底座上设有可放置闪存颗粒的凹槽，当所述上盖盖于所述底座上时，所述弹针将与放置于所述凹槽内的闪存颗粒相接触，所述主控芯片为Xillinx FPGA芯片，所述接口为SFF-8639高速接口。

在本实用新型所述的用于闪存颗粒快速验证的装置中，所述上盖的一端通过转轴与所述底座相连接，另一端设有卡扣，在所述底座上设有与所述卡扣相对应的扣位。

在本实用新型所述的用于闪存颗粒快速验证的装置中，所述凹槽中设有接触盘，所述接触盘通过弹性件与所述凹槽底部相连接，在所述接触盘上设有多个第一通孔，所述第一通孔的位置与所述闪存颗粒测试点的位置相对应，所述弹针一端固定在所述底座上，另一端设于所述第一通孔中，并在所述接触盘下移时从所述第一通孔中伸出。

在本实用新型所述的用于闪存颗粒快速验证的装置中，所述上盖包括设有第二通孔的盖体和安装在所述第二通孔中的弹性压块，所述弹性压块的位置与所述凹槽相对应。

在本实用新型所述的用于闪存颗粒快速验证的装置中，包括四个测试座，四个测试座分别安装在所述PCB板的四个角上。

实施本实用新型可实现同时对多个闪存颗粒进行快速验证，验证的速度远远超过普通的测试装置；无需对闪存颗粒进行焊接，可随时随地更换闪存颗粒进行测试，操作灵活，扩展性强；结构简单，使用方便，制造成本低。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2是本实用新型实施例中测试座的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。