[实用新型]基于相位调制QKD偏振态制备装置有效

专利信息
申请号: 201821686632.8 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN208768104U 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 汤艳琳;许穆岚;李东东 申请(专利权)人: 科大国盾量子技术股份有限公司
主分类号: H04L27/20 分类号: H04L27/20;H04L9/08;H04B10/556;H04B10/61
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李婷婷;王宝筠
地址: 230088 安徽省合肥市高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请提供一种基于相位调制QKD偏振态制备装置,所述装置包括等臂干涉仪,从而避免了系统频率有上限的问题,使得基于相位调制QKD偏振态制备装置具有高速的特点。而通过在Alice端增加光电检测模块和相位调节模块,其中,光电检测模块检测干涉仪的干涉信号,发送给相位调节模块,相位调节模块根据干涉信号,对干涉仪的相位进行调节,以调制QKD偏振态,制备QKD偏振态的相位被实时补偿并反馈,减弱甚至消除制备QKD偏振态过程中的相位偏差和漂移。
搜索关键词: 偏振态 相位调节模块 相位调制 制备装置 光电检测模块 干涉信号 制备 漂移 实时补偿 系统频率 相位偏差 干涉仪 干涉 等臂 调制 反馈 检测 申请
【主权项】:
1.一种基于相位调制QKD偏振态制备装置,包括:光源模块,用于产生信号光;等臂干涉仪,所述等臂干涉仪包括第一臂和第二臂,以及位于所述第一臂或所述第二臂中的相位调制器,和位于所述第一臂或所述第二臂中的移相器;所述等臂干涉仪接收所述信号光,并输出QKD偏振态;其特征在于,还包括:光电检测模块,用于检测所述等臂干涉仪的干涉现象,并输出干涉信号;相位调节模块,用于根据所述干涉信号,对所述等臂干涉仪的相位进行调节,以调制所述QKD偏振态。
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