[实用新型]基于相位调制QKD偏振态制备装置有效

专利信息
申请号: 201821686632.8 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN208768104U 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: 汤艳琳;许穆岚;李东东 申请(专利权)人: 科大国盾量子技术股份有限公司
主分类号: H04L27/20 分类号: H04L27/20;H04L9/08;H04B10/556;H04B10/61
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李婷婷;王宝筠
地址: 230088 安徽省合肥市高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 偏振态 相位调节模块 相位调制 制备装置 光电检测模块 干涉信号 制备 漂移 实时补偿 系统频率 相位偏差 干涉仪 干涉 等臂 调制 反馈 检测 申请
【权利要求书】:

1.一种基于相位调制QKD偏振态制备装置,包括:

光源模块,用于产生信号光;

等臂干涉仪,所述等臂干涉仪包括第一臂和第二臂,以及位于所述第一臂或所述第二臂中的相位调制器,和位于所述第一臂或所述第二臂中的移相器;

所述等臂干涉仪接收所述信号光,并输出QKD偏振态;

其特征在于,还包括:

光电检测模块,用于检测所述等臂干涉仪的干涉现象,并输出干涉信号;

相位调节模块,用于根据所述干涉信号,对所述等臂干涉仪的相位进行调节,以调制所述QKD偏振态。

2.根据权利要求1所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,所述相位调节模块为相位反馈模块;

所述相位反馈模块与所述移相器相连;

所述相位反馈模块根据所述干涉信号,对所述移相器上加载的电压进行调节,以使所述等臂干涉仪的第一臂和第二臂的相位差为零或2π的整数倍。

3.根据权利要求1所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,所述相位调节模块为相位校准模块;所述相位校准模块与所述相位调制器相连;

所述相位校准模块根据所述干涉信号,对所述相位调制器上施加的标称调制电压进行微调,进而得到校准后的相位调制电压,加载在所述相位调制器上,对所述等臂干涉仪进行相位稳定。

4.根据权利要求1所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,所述相位调节模块包括相位校准模块和相位反馈模块;所述相位校准模块与所述等臂干涉仪中的相位调制器相连;

所述相位校准模块根据所述干涉信号,对所述相位调制器上施加的标称调制电压进行微调,进而得到校准后的相位调制电压,加载在所述相位调制器上,对所述等臂干涉仪进行相位稳定;

所述相位反馈模块与所述等臂干涉仪中的移相器相连;

所述相位反馈模块根据所述干涉信号,对所述移相器上加载的电压进行调节,以使所述等臂干涉仪的第一臂和第二臂的相位差为零或2π的整数倍。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,所述光电检测模块包括一个光电管。

6.根据权利要求5所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,还包括偏振控制器和偏振分束器;

所述偏振控制器、偏振分束器和所述光电管沿光束传输方向依次设置。

7.根据权利要求1-4任意一项所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,所述光电检测模块包括第一光电管和第二光电管。

8.根据权利要求7所述的基于相位调制QKD偏振态制备装置,其特征在于,还包括偏振控制器和偏振分束器;

其中,所述偏振控制器接收由所述等臂干涉仪接收并传递的调节光,所述调节光经过所述偏振控制器后注入所述偏振分束器,所述偏振分束器将所述调节光分束为透射光和反射光并输出;

所述透射光输出至所述第一光电管,经过所述第一光电管将透射光信号转换为第一电信号;

所述反射光输出至所述第二光电管,经过所述第二光电管将反射光信号转换为第二电信号。

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