[实用新型]一种热阻测试系统有效
| 申请号： | 201821625263.1 | 申请日： | 2018-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN208902637U | 公开（公告）日： | 2019-05-24 |
| 发明（设计）人： | 胡久恒 | 申请（专利权）人： | 杭州高坤电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311122 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种热阻测试系统，包括测试台、小型试验箱、测试罩壳、K系数和热阻测试单元，测试罩壳内部设有测器件外壳温度的TC温度线、测器件外露引线温度的TL温度线、测器件周围环境温度的Ta温度线和测罩壳内部环境温度的TA温度线，TC温度线上连接有TC温度探头，TL温度线上连接TL温度探头，Ta温度线上连接有Ta温度探头，TA温度线上连接有TA温度探头，待测器件放置在测试罩壳内，TC温度探头与待测器件外壳接触，TL温度探头靠近待测器件外露引线，Ta温度探头靠近待测器件外壳，TA温度探头远离待测器件。本实用新型操作简便，测试环境严格按照国际标准，试验准确，器件测试数据更具说服力和对比性。 | ||
| 搜索关键词： | 温度探头 温度线 待测器件 热阻测试 本实用新型 罩壳内部 外露 测试 罩壳 测试环境 器件测试 器件外壳 外壳接触 小型试验 测试台 对比性 系数和 试验 | ||
【主权项】：
1.一种热阻测试系统，其特征在于：其包括测试台、设置在测试台内部的小型试验箱、设置在测试台顶部的测试罩壳以及设置在测试台底部的K系数和热阻测试单元，所述测试罩壳内部设有4个温度线，分别为测器件外壳温度的TC温度线、测器件外露引线温度的TL温度线、测器件周围环境温度的Ta温度线和测罩壳内部环境温度的TA温度线，所述TC温度线上连接有TC温度探头，所述TL温度线上连接TL温度探头，所述Ta温度线上连接有Ta温度探头，所述TA温度线上连接有TA温度探头，待测器件放置在测试罩壳内，所述TC温度探头与待测器件外壳接触，所述TL温度探头靠近待测器件外露引线，所述Ta温度探头靠近待测器件外壳，所述TA温度探头远离待测器件。
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