[实用新型]基于悬臂梁应变测量的F-P微位移测量系统线性度比对装置有效
| 申请号： | 201821472944.9 | 申请日： | 2018-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN208704658U | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 蓝旭辉;沈小燕;刘源 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于悬臂梁应变测量的F‑P标准具微位移测量系统的线性度比对装置。包括面阵器件、F‑P标准具干涉测量系统、应力加载系统、矩形等截面梁、悬臂梁固定结构和支架。支架一端固定在光学平台上，F‑P标准具干涉测量系统放置在其上方；面阵器件固定在矩形等截面梁上，矩形等截面梁的一端用悬臂梁固定结构固定在光学隔振平台上；通过应力加载系统改变应力F的大小，用F‑P标准具干涉测量系统和悬臂梁挠度计算公式计算相应的位移量，通过对二者线性度曲线的比较完成F‑P标准具微位移测量系统的线性度比对。本实用新型具有测量运算简单，测量精细，准确度高等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 标准具 悬臂梁 线性度 微位移测量系统 干涉测量系统 等截面梁 本实用新型 比对装置 固定结构 加载系统 面阵器件 应变测量 支架 光学隔振平台 测量运算 公式计算 光学平台 挠度计算 准确度 位移量 比对 测量 精细 | ||
【主权项】：
1.基于悬臂梁应变测量的F‑P微位移测量系统线性度比对装置，包括F‑P标准具干涉测量系统(6)、面阵器件(7)、支架(8)、矩形等截面梁(9)、悬臂梁固定结构(14)和应力加载系统(15)，其特征在于：支架(8)一端固定在光学隔振平台(16)上，另一端用于放置F‑P标准具干涉测量系统(6)，面阵器件(7)布置在F‑P标准具干涉测量系统(6)前且与F‑P标准具干涉测量系统(6)处于同一光轴中用于成像，悬臂梁固定结构(14)将矩形等截面梁(9)以悬臂梁结构固定，应力加载系统(15)通过对应力F的改变从而改变矩形等截面梁(9)端面的形变大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量大学，未经中国计量大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201821472944.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
