[实用新型]集成电路存储器有效

专利信息
申请号: 201821442347.1 申请日: 2018-09-04
公开(公告)号: CN208923134U 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 智云
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型涉及集成电路领域,提供了一种集成电路存储器,包括衬底以及形成于所述衬底上且与多个所述第二源/漏区一一对应连接的多个存储节点接触,所述衬底具有多个隔离区以及由所述隔离区界定出的多个有源区,每个所述有源区具有至少一个第一源/漏区和至少一个第二源/漏区;每个所述存储节点接触包括在对应于所述第二源/漏区的所述衬底表面沿远离所述衬底表面的方向依次叠加的外延接触和导电材料层,所述多个存储节点接触之间相互隔离。所述外延接触在去除相邻存储节点接触之间的导电材料时,可以减少或避免衬底损伤。
搜索关键词: 源/漏区 存储节点接触 衬底 集成电路存储器 衬底表面 隔离区 源区 集成电路领域 相邻存储节点 本实用新型 导电材料层 衬底损伤 导电材料 依次叠加 界定 去除 隔离
【主权项】:
1.一种集成电路存储器,其特征在于,包括:衬底,所述衬底具有多个隔离区以及由所述隔离区界定出的多个有源区,每个所述有源区具有至少一个第一源/漏区和至少一个第二源/漏区;形成于所述衬底上的多条位线,每条所述位线与相应的所述有源区相交,以使所述相应的有源区中的所述第一源/漏区连接至所述位线;形成于所述衬底上的隔离层,所述隔离层覆盖所述多条位线的顶表面和侧表面,所述隔离层中包括多个开口,多个所述第二源/漏区位于同一所述开口内,多个所述第二源/漏区之间通过所述隔离区相互间隔;以及形成于所述衬底上且与多个所述第二源/漏区一一对应连接的多个存储节点接触,每个所述存储节点接触包括在对应于所述第二源/漏区的所述衬底表面沿远离所述衬底表面的方向依次叠加的外延接触和导电材料层,所述多个存储节点接触之间相互隔离。
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