[实用新型]一种改良的COC老化测试设备

摘要

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，尤其为一种改良的COC老化测试设备，包括箱体，箱体的上方设有功能区，功能区的一侧设有测试区，测试区的下方设有备用区，备用区内部的上方设有隔板，隔板的一侧设有拉门，拉门一侧的两端连接有翻转箱，翻转箱之间设置有方盒；隔板的中心处卡接有平台，翻转箱的顶端开设有齿轮腔，齿轮腔的内部设置有齿轮，翻转箱的一侧设置有齿条；该改良的COC老化测试设备，拉动拉门带动齿条移动，使齿轮向后转动，从而带动与之啮合的平台向下翻转，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作简单便捷，维持了测试区内的温度，节省了用电成本，且工作的连续性极好，从而大大的提高了工作效率。

主权项

1.一种改良的COC老化测试设备，包括箱体(1)，所述箱体(1)的上方设有功能区(2)，所述功能区(2)的一侧设有测试区(3)，所述测试区(3)的下方设有备用区(4)，所述备用区(4)内部的上方设有隔板(5)，所述隔板(5)的一侧设有拉门(6)，所述拉门(6)一侧的两端连接有翻转箱(7)，所述翻转箱(7)之间设置有方盒(8)，其特征在于：所述隔板(5)的中心处开设有方孔(50)，所述方孔(50)的内部卡接有平台(51)，所述隔板(5)的前端嵌设有若干磁铁(52)，所述隔板(5)的底面开设有方槽(53)，所述方槽(53)的一侧且位于所述方孔(50)的内侧开设有转孔(530)，所述翻转箱(7)的顶端开设有齿轮腔(70)，所述齿轮腔(70)的内部设置有齿轮(71)，所述翻转箱(7)的一侧且靠近底端处开设有齿条口(72)，所述齿条口(72)的一侧设置有齿条(73)，所述齿条(73)的一端焊接有连接头(730)。