[实用新型]一种改良的COC老化测试设备

说明书

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，尤其为一种改良的COC老化测试设备，包括箱体，箱体的上方设有功能区，功能区的一侧设有测试区，测试区的下方设有备用区，备用区内部的上方设有隔板，隔板的一侧设有拉门，拉门一侧的两端连接有翻转箱，翻转箱之间设置有方盒；隔板的中心处卡接有平台，翻转箱的顶端开设有齿轮腔，齿轮腔的内部设置有齿轮，翻转箱的一侧设置有齿条；该改良的COC老化测试设备，拉动拉门带动齿条移动，使齿轮向后转动，从而带动与之啮合的平台向下翻转，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作简单便捷，维持了测试区内的温度，节省了用电成本，且工作的连续性极好，从而大大的提高了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种改良的COC老化测试设备。

背景技术

老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电子芯片及其他材料进行的热氧老化试验，或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验，其中COC芯片的高低温老化测试，能测试出它处在高低温环境中的工作性能，让厂家根据其测试结果来调试改进芯片，使其成熟稳定，然而在进行高低温测试结束时，需等待一段时间，让设备内部温度趋于正常时，才进行拿取，这样浪费了等待时间，影响后续芯片的测试工作，严重影响了工作效率，鉴于此，我们提出一种改良的COC老化测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种改良的COC老化测试设备，以解决上述背景技术中提出的在老化测试设备测试完，需等待才取拿芯片，严重影响后续芯片测试工作问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种改良的COC老化测试设备，包括箱体，所述箱体的上方设有功能区，所述功能区的一侧设有测试区，所述测试区的下方设有备用区，所述备用区内部的上方设有隔板，所述隔板的一侧设有拉门，所述拉门一侧的两端连接有翻转箱，所述翻转箱之间设置有方盒；所述隔板的中心处开设有方孔，所述方孔的内部卡接有平台，所述隔板的前端嵌设有若干磁铁，所述隔板的底面开设有方槽，所述方槽的一侧且位于所述方孔的内侧开设有转孔，所述翻转箱的顶端开设有齿轮腔，所述齿轮腔的内部设置有齿轮，所述翻转箱的一侧且靠近底端处开设有齿条口，所述齿条口的一侧设置有齿条，所述齿条的一端焊接有连接头。

优选的，所述隔板焊接于所述测试区与所述备用区之间，所述翻转箱通过螺钉固定于所述备用区的两侧，所述方盒位于所述平台的正下方。

优选的，所述平台的两侧中心处焊接有卡柱，所述卡柱的外端设有齿槽，所述转孔与所述方槽和所述方孔均相连通，所述卡柱与所述转孔插接配合，所述齿槽与所述齿轮啮合。

优选的，所述拉门与所述隔板通过磁铁磁性连接，所述拉门的一侧且靠近底端处焊接有连接块，所述连接块与所述连接头铰接。

优选的，所述齿轮通过轴与所述齿轮腔连接，所述齿轮腔与所述齿条口相连通，所述齿轮与所述齿条啮合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该改良的COC老化测试设备，拉动拉门带动齿条移动，使齿轮向后转动，从而带动与之啮合的平台向下翻转，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作简单便捷，维持了测试区内的温度，节省了用电成本，且工作的连续性极好，从而大大的提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中的A放大结构示意图；

图3为本实用新型中的隔板结构示意图；

图4为本实用新型中的平台结构示意图；

图5为本实用新型中的拉门结构示意图；

图6为本实用新型中的翻转箱结构示意图。