[实用新型]一种岩石薄片分析目标定位装置有效
| 申请号: | 201821330569.4 | 申请日: | 2018-08-17 |
| 公开(公告)号: | CN208568775U | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
| 发明(设计)人: | 赵鸿;屈文俊;赵九江;李超;周利敏;李欣尉 | 申请(专利权)人: | 国家地质实验测试中心 |
| 主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24 |
| 代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 胡时冶;马东伟 |
| 地址: | 100037 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及一种岩石薄片分析目标定位装置,属于岩石样品原位微区分析技术领域,解决了如何在激光剥蚀等离子体质谱(LA‑ICP‑MS)光学镜头下对扫描电子显微镜(SEM)的同一个分析目标进行快速精确定位。该定位装置包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头,把头下端连接有四个定位脚,固定有一个固定脚;固定脚位于四个定位脚中间;定位脚两两相对设置,相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面,两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直;固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具;定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系,固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。实现了岩石薄片分析目标的快速精确定位。 | ||
| 搜索关键词: | 定位脚 固定脚 分析目标 标记工具 定位装置 岩石薄片 直角坐标系 相对设置 接触点 扫描电子显微镜 等离子体质谱 本实用新型 光学镜头 互相垂直 两两相对 微区分析 岩石样品 原点 剥蚀 底端 两组 下端 激光 | ||
【主权项】:
1.一种岩石薄片分析目标定位装置,包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头,其特征在于,所述把头下端连接有四个所述定位脚,固定有一个所述固定脚;所述固定脚位于四个所述定位脚中间;所述定位脚两两相对设置,相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面,两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直,固定脚所在直线为两个垂直平面的交线;所述固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具;所述定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系,所述固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。
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