[实用新型]一种岩石薄片分析目标定位装置

说明书

本实用新型涉及一种岩石薄片分析目标定位装置，属于岩石样品原位微区分析技术领域，解决了如何在激光剥蚀等离子体质谱(LA‑ICP‑MS)光学镜头下对扫描电子显微镜(SEM)的同一个分析目标进行快速精确定位。该定位装置包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头，把头下端连接有四个定位脚，固定有一个固定脚；固定脚位于四个定位脚中间；定位脚两两相对设置，相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面，两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直；固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具；定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系，固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。实现了岩石薄片分析目标的快速精确定位。

技术领域

本实用新型涉及岩石样品原位微区分析技术领域，尤其涉及一种岩石薄片分析目标定位装置。

背景技术

地球科学领域对岩石样品的分析研究，尤其在对岩石样品进行原位微区化学元素成分含量分析中，扫描电子显微镜(SEM)与激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS)是两种常用的原位微区分析仪器。

目前，对岩石样品元素原位微区分析时，通常先采用扫描电子显微镜(SEM)背散射探头对样品薄片中主要组分分布特征进行背散射成像分析，确定目标组分分布位置，即确定分析目标；然后将岩石样品薄片放到激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS)中对扫描电子显微镜(SEM)中确定目标组分进行化学元素成分含量分析。

然而，两种仪器分别是背散射电子成像和光学成像，两种仪器成像原理不同，即使相同的分析目标在两种仪器呈现的形貌亦显著不同，所以在激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS)显示的光学图像中很难找到之前在扫描电子显微镜(SEM)中选取的分析目标，即便找到扫描电子显微镜(SEM)中选取的分析目标，也会耗费科研人员大量的时间和精力，并且测试结果误差大、精度低，最终分析结果往往难以满足实验结果的精度要求。因此，采用扫描电子显微镜(SEM)与激光剥蚀等离子体质谱联用(LA-ICP-MS)对岩石样品进行元素原位微区分析过程中，分析目标定位速度慢、定位不精确的问题亟急解决。

实用新型内容

鉴于上述分析，本实用新型旨在提供一种岩石薄片分析目标定位装置，解决了如何在不影响样品薄片观察、测试的前提下，在激光剥蚀等离子体质谱(LA-ICP-MS)光学镜头下对扫描电子显微镜(SEM)的同一个分析目标进行快速、精确定位的问题。

本实用新型的目的主要是通过以下技术方案实现的：

一种岩石薄片分析目标定位装置，包括固定脚、定位脚以及设置在固定脚和定位脚顶端的把头，把头下端连接有四个定位脚，固定有一个固定脚；固定脚位于四个定位脚中间；定位脚两两相对设置，相对设置的两个定位脚与固定脚位于同一个平面，两组相对设置的定位脚形成的两个平面互相垂直，固定脚所在直线为两个垂直平面的交线；固定脚和定位脚的底端分别设置有标记工具；定位脚标记工具与薄片的四个接触点连接构成直角坐标系，固定脚标记工具与薄片的接触点为直角坐标系原点。

在上述方案的基础上，本实用新型还做了如下改进：

进一步地，定位脚包括上段和下段两部分，下段的上端插接在设置于上段的空腔内并能够在空腔内伸缩，定位脚的下段与上段通过限位螺栓锁定连接。

进一步地，定位脚下段的外表面设有刻度线。

进一步地，固定脚的顶端与定位脚的上段一体成型，四个定位脚与固定脚的夹角大小均不同。

进一步地，定位脚与固定脚通过阻尼转轴连接，定位脚与固定脚的夹角大小可调。

进一步地，固定脚的上端固定设置有钢片，钢片与固定脚垂直，钢片设有限制相对设置的定位脚在平面内运动的条形孔。

进一步地，还包括能够使固定脚与薄片垂直的辅助钢套，辅助钢套设有竖直限位通道，竖直限位通道的直径与固定脚的直径相当，固定脚与竖直限位通道内壁接触且能够滑动。